多功能X射線衍射儀Ultima IV系列技術參數 

1. X射線發生器功率為3KW 
2. 測角儀為水平測角儀 
3. 測角儀小步進為1/10000度 
4. 測角儀配程序式可變狹縫 
5. 高反射效率的石墨單色器 
6. CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）（理學*） 
7. 小角散射測試組件 
8. 多用途薄膜測試組件 
9. 微區測試組件 
10. In-Plane測試組件（理學*） 
11. 高速探測器D/teX-Ultra 
12. X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC 
13. 分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等 

多功能X射線衍射儀Ultima IV系列主要特點： 
可以廣泛應用于各種材料結構分析的各個領域。 
可以分析的材料包括：金屬材料、無機材料、復合材料、有機材料、納米材料、超導材料 
可以分析的材料狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區微量樣品 
主要的應用有： 
1. 粉末樣品的物相定性與定量分析 
2. 計算結晶化度、晶粒大小 
3. 確定晶系、晶粒大小與畸變 
4. Rietveld結構分析 
5. 薄膜樣品分析，包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度，電荷密度 
6. In-Plane裝置可以同時測量樣品垂直方向的結構及樣品深度方向的結構 
7. 小角散射與納米材料粒徑分布 
8. 微區樣品的分析