NDA 200  X熒光光譜儀分析方法配置：

?基于蒙特卡洛計算模型的基本參數法

? 經驗系數法

? 理論α系數法

軟件功能描述：

? RoHS指令、無鹵指令等環(huán)保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析

? 各種金屬材料、無機非金屬材料（不包括聚合物材料）的材質分析（S～U元素）

? 聚合物等有機材料中硫（S）～鈾（U）元素的含量分析

? 分析報告的自主定制與輸出打印

? 分析結果的保存、查詢及統(tǒng)計

? On-Line實時在線技術支持與技術服務功能

? 多層鍍層厚度測量功能（選配）

NDA 200  X熒光光譜儀主要配置

?美國Si-PIN電制冷半導體探測器

?側窗鉬（Mo）靶管

?標配16組復合濾光片

?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四種準直器

?具備符合中國國家標準的樣品混側功能

?內置標準工作曲線

?配置On-line實時在線技術支持與服務平臺

?具備開放工作曲線技術平臺

?分析軟件操作系統(tǒng)分級管理

產品參數

名稱：X熒光光譜儀

型號：NDA200

輸入電壓：220±5V/50Hz

消耗功率：≤500W

環(huán)境溫度：15-30℃

環(huán)境濕度：≤80%（不結露）

主機外形（mm）:長＊寬＊高=900*500*440

樣品倉（mm）:長＊寬＊高=430*380*120

主機重量：約60公斤

技術指標

元素種類：元素周期表中硫（S）～鈾（U）之間元素

測量時間：

        對聚合物材料，典型測量時間為200秒

        對銅基體材料，典型測量時間為400秒

檢出限指標（LOD）：

        對聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

精密度指標，以連續(xù)測量7次的標準偏差σ表征：

    對聚合物（塑膠）材料：LOD（Pb）≤15mg/Kg；LOD（Hg）≤15mg/Kg；LOD（TCr）≤15mg/Kg；LOD（TBr）≤15mg/Kg；LOD（Cd）≤7mg/Kg

        對銅基體材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg

準確度指標，以系統(tǒng)偏差δ進行表征

        對聚合物材料：δ（Pb）≤100mg/Kg; δ（Hg）≤100mg/Kg; δ（TBr）≤100mg/Kg; δ（TCr）≤100mg/Kg; δ（Cd）≤10mg/Kg

        對銅基體材料：δ（Pb）≤150mg/Kg