XDL X-RAY光譜膜厚儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 深圳市德譜儀器有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/4/4 9:06:12
- 訪問次數 483
產品標簽
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XDL X-RAY光譜膜厚儀,是發(fā)展繼承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列,其非破壞式的測量,特別適合五金的金屬鍍層厚度,測量快速、精確、無損.如一些五金零件、電路板及測量電鍍槽中的金離子的含量。XDL X-RAY采用了高次數率的比例接收器,可以在沒有標準片的情況下,對金屬五金件的鍍層厚度及電鍍液中的離子含量做出精確的測量,另外在WINFTM BASIC 軟件的支持下,可測量多至24元素,這是其他品牌所不能的。
XDL X-RAY光譜膜厚儀的*穩(wěn)定性是十分高的,這使儀器減少校正所需要的時間及次數,便于管理儀器,并提高生產效率.應用范圍廣泛,包括了測量大量的電鍍五金件、檢查薄膜層(如:裝飾性鉻的鍍層)、在電子及半導體行業(yè)中分析其功能性的鍍層、可用于電路板測量、電鍍槽中的藥水成份分析,已成為被廣泛應用的自動測定涂鍍層厚度的儀器。