FEI Quanta 450FEG掃描電鏡
- 公司名稱 北京源海威科技有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/3/20 10:30:42
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價格區間 | 面議 | 儀器種類 | 冷場發射 |
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研究各種各樣的材料,并進行結構和成份表征,是目前對掃描電鏡的主流應用要求。FEI Quanta FEG系列靈活、通用,足以應對當今人們廣博的研究方向這一挑戰。“分析任何樣品,得到所有數據”,在Quanta FEG上可得到表面像和成份像,并可輔以多種附件來確定材料的性質和元素組成。
一、 主要優點
1) FEI Quanta 450FEG掃描電鏡具有環境掃描技術的高分辨場發射掃描電鏡
2) 在各種操作模式下分析導電和不導電樣品,得到二次電子像和背散射電子像
3) 很大程度降低樣品制備要求:低真空/環境真空技術使得不導電樣品和/或含水樣品不經導電處理即可直接成像和分析,樣品表面無電荷累積現象
4) 專業的“穿過透鏡”的壓差真空系統,對導電和不導電樣品都可進行EDS/EBSD分析,不管是在高真空模式或在低真空模式。穩定的大束流(大 200 nA)確保能譜及EBSD分析工作的快速、準確
5) FEI Quanta 450FEG掃描電鏡可作為一個微觀實驗室。安裝特殊的原位樣品臺后,在從- 165 °C到1500 °C溫度范圍內,對多種樣品保持其原始狀態下進行動態原位分析
6) 對導電樣品,可選用減速模式得到表面和成份信息
7) 直觀、簡便易用的軟件,即使電鏡新手也能輕易上手
二、 典型應用
1、納米表征
1)金屬及合金, 氧化/腐蝕, 斷口, 焊點, 拋光斷面, 磁性及超導材料
2)陶瓷, 復合材料, 塑料
3)薄膜/涂層地質樣品斷面, 礦物
4)軟物質: 聚合物, 藥品, 過濾膜, 凝膠, 生物組織, 木材
5)顆粒, 多孔材料, 纖維
2、原位過程分析
1)增濕/去濕
2)浸潤行為/接觸角分析
3)氧化/腐蝕
4)拉伸 (伴隨加熱或冷卻)
5)結晶/相變
3、納米原型制備
1)電子束曝光 (EBL)
2)電子束誘導沉積(EBID)
三、主要參數
1、電子光學
1)高分辨肖特基場發射電子槍
2)優化的高亮度、大束流鏡筒
3)45°錐度物鏡極靴,及“穿過透鏡”的壓差真空系統,加熱式物鏡光闌
4)加速電壓: 200 V - 30 kV
5)束流: 大200 nA并連續可調
6)放大倍數: 6 x 1,000,000 x (四幅圖像顯示)
2、分辨率
1)高真空
30 kV下0.8 nm (STEM)*
30 kV下1.0 nm (SE)
30 kV下2.5 nm (BSE)*
1 kV下3.0 nm (SE)
2)高真空下減速模式*
1 kV下3.0 nm (BSE)*
1 kV下2.3 nm (ICD)*
200 V下3.1 nm (ICD)*
3)低真空
30 kV下1.4 nm (SE)
30 kV下 2.5 nm (BSE)
3 kV下3.0 nm (SE)
4)環境真空 (ESEM)
30 kV下1.4 nm (SE)
3、檢測器
1)E-T二次電子探頭
2)大視場低真空氣體二次電子探頭 (LFD)
3)氣體二次電子探頭 (GSED)
4)樣品室紅外CCD相機
5)高靈敏度、低電壓固體背散射探頭*
6)氣體背散射探頭*
7)四分固體背散射探頭*
8)閃爍體型背散射探頭/CLD*
9)vCD (低電壓、高襯度探頭)*
10)鏡筒內探頭(ICD),用于減速模式下二次電子檢測*
11)電子束流檢測器*
12)分析型氣體背散射探頭 (GAD)*
13)STEM探頭*
14)Nav-Cam 光學相機彩色成像,用于樣品導航*
15)陰極熒光探測器*
16)能譜*
17)波譜*
18)EBSD*
19)極靴底部安裝四環分隔式定向型背散射電子探頭 (DBS)*
4、真空系統
1)1個 250 l/s 渦輪分子泵, 2個機械泵
2)專業的“穿過透鏡”的壓差真空系統
3)電子束在氣體區域的行程:10 mm或2 mm
4)可升級成無油機械泵
5)2個離子泵
6)樣品室真空度 (高真空模式) < 6e-4 Pa
7)樣品室真空度(低真空模式) < 10 to 130 Pa
8)樣品室真空度(環境真空模式) < 10 to 4000 Pa
9)典型換樣時間: 高真空模式≤ 150秒;低真空及環境真空模式≤ 270秒 (FEI標準測試程序)
5、樣品室
1)左右內徑284 mm
2)10 mm分析工作距離
3)8個探測器 / 附件接口
4)EDS采集角: 35°
6、樣品臺
1)X/Y = 100 mm
2)Z = 60 mm
3)Z向間隙75mm
4)傾斜:- 5° - + 70°
5)連續旋轉360°
6)重復精度: 2 μm (X/Y方向)
7)偽全對中樣品臺
7、樣品座
1)多樣品座
2)單樣品座
3)通用樣品座套件*
4)適用于硅片或其它特殊要求的樣品座*
8、圖像處理器
1)大6144 x 4096像素
2)圖像文件格式:TIFF (8,16 or 24 bit), BMP or JPEG
3)單窗口或四窗口圖像顯示
4)四活動窗口
5)實時或靜態按彩色或按灰度等級信號混合
6)256 幀平均或積分
7)數字動畫記錄 (.avi格式)
8)直方圖及圖像測量軟件
9)DCFI (漂移補償積分)
9、支持軟件
1)SmartSCAN 智能掃描技術
2)蒙太奇圖像導航
3)軟件溫度控制
4)FEI動畫生成工具