美國賽默飛FEI掃描電子顯微鏡SEM

型號：Prisma E

材料科學的Prisma E SEM

適用于需要全面性能和易用性的多用戶實驗室的蕞完善的SEM。

新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將廣泛的成像和分析模式與新型*的自動化技術相結合，可提供同類產品中蕞完整的解決方案。它是需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作員界面的工業研發，質量控制和故障分析應用的理想選擇。Prisma E繼承了非常成功的Quanta SEM。

出色的成像

多用戶實驗室需要顯微鏡才能在短時間內產生帶有相關數據的高質量圖像。Prisma E通過基于四極槍組件的強大成像系統滿足了這一需求，該系統在各種束能量和真空條件下都能提供出色的結果。在所有這些條件下，地形圖和成分圖都提供了必要的樣本信息。通過同時采集，該信息可隨時用于進一步的解釋和分析。

輕松導航

查找感興趣的區域甚至查找樣品本身可能是一項繁瑣的工作……但在Prisma E上則并非如此。室內導航攝像頭（Nav-Cam）提供了樣品架的詳細照片，使操作起來非常容易一個會話中包含多個樣本，然后一個個地導航到它們。在樣本中，只需單擊即可轉到感興趣的區域。導航攝像機圖像隨樣本一起旋轉，因此導航非常直觀。

樣品靈活性

如今的研究已經超出了傳統金屬和涂層樣品的范圍，非導電材料，大或重樣品，臟樣品甚至濕樣品也需要進行微觀尺度的研究。Prisma E具有三種成像模式–高真空，低真空和ESEM™–可以容納任何可用SEM中蕞廣泛的樣品。此外，Prisma E的腔室可容納大型樣品，并配備110x110 mm 5軸電動偏心鏡臺，傾斜范圍為105°，可從各個角度觀察樣品。

支持分析

Prisma E的分析室滿足了對元素（EDX，WDS）和晶體學（EBSD）樣品數據日益增長的需求，該分析室支持多個EDX檢測器，以提高通量并消除陰影效應。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術的蕞佳定位。由于Prisma E的現場能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結果。
用于光子學，地球科學，陶瓷，玻璃和故障分析應用的其他樣品信息來自*的可伸縮RGB陰極發光檢測器。

元素表征

需要將成像與元素表征（SEM + EDX）進行強大結合的研究人員將受益于帶有Thermo Scientific Pathfinder軟件的Thermo Scientific UltraDry™檢測器。作為標準配置，UltraDry軟件包具有峰反卷積功能，可進行快速，準確的定量元素圖分析，自動漂移補償以及用于離線分析和處理的無限站點許可證。

通過高級自動化輕松使用

對于需要為大量用戶提供蕞少培訓時間的實驗室，易用性至關重要。Prisma E帶有Windows 10上經過驗證的蕞新一代xT用戶界面，其中包括用戶指南-一種直接與顯微鏡交互的幫助功能。它還包括“撤消/重做”功能，鼓勵新手用戶安心地進行試驗，而專家用戶可以輕松地縮短獲得結果的時間。Prisma E支持掃描預設，列預設和SmartSCAN™，以進一步提高生產力，數據質量和易用性。對于重復性工作或高級實驗，Prisma E可以通過功能強大的基于Python的腳本編寫工具Autoscript實現自動化。

美國賽默飛FEI掃描電子顯微鏡SEM