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PROTO AXRD 臺式X-射線衍射儀

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廣州貝拓科學技術有限公司成立于2010年8月,是國家高業,廣州科技小巨人企業,并在廣東股權交易中心成功掛牌(股權代碼:892081),通過ISO9001-2015質量體系認證和知識產權貫標認定體系,擁有近20項國家磚利。貝拓科學一直從事光譜分析儀器領域,自主研發儀器有光學接觸角測量儀,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見分光光度計,積分球式透反射率測試儀等。具備光學設計、機械設計、軟件編寫和算法編寫核心能力,和中山大學、廣州大學、華南師范大學有緊密的合作關系,并且是廣州大學物理與光電學院的長期實習基地。貝拓科學所研發生產的產品定位在國內高水平,未來面向市場。

前臺.jpg

貝拓科學陪伴著科學家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號,貝拓科學尊重以嚴謹的科學理論為指導,為科學家提供有力的科研工具。我們默默堅持做前沿分析儀器的搬運工,陪伴科學家不斷成長。我們很榮幸作為一些有儀器生產廠家,例如:日本Hitachi,德國WITec,德國Bruker,英國OXFORD,美國ThermoFisher,Ametek旗下輸力強和普林斯頓,以及中國臺灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國的科學家提供專業的服務。

 

我們的宗旨是為科學學提供更專業,更貼心的服務。

我們的優勢和專注點集中于材料測試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測試服務,其中包括材料的結構、元素分布、表面特征、物理化學特性以及光學、電學特性的分析。

材料分析領域代理品牌:

OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國臺灣超微光學)、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

 

 

接觸角測量儀、在線測厚儀、光學膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

價格區間 面議 儀器種類 探測器及其他設備

PROTO AXRD 臺式X-射線衍射儀

  PROTO AXRD臺式X-射線衍射儀是易于使用,并提供準確、可靠的測量結果與類似的速度全尺寸實驗單位。配備強大的混合光子計數探測器,AXRD臺式X-射線衍射儀具有極快的數據收集能力。低分辨率掃描數據收集只需3min,高分辨率掃描數據收集只需15-30min。令人難以置信的低角度性能,優秀的峰值低至1o

600W 的x射線的力量,*可以實現的應用解決峰值:< 0.05°2θ角精度的<±0.02°Δ2θ全角范圍,AXRD臺式,提供了一個低成本替代粉末衍射,同時保持所有必要的性能,即使是較苛刻的x射線衍射材料調查。
無論你是做階段識別、定量分析或結構分析AXRD臺式帶給你多年的方便和價值在一個緊湊的,易于維護系統。

優秀的分辨率,準確性和數據質量

PROTO AXRD 臺式X-射線衍射儀


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六硼化鑭

二十二酸銀鹽 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

*進的x射線探測器

DECTRIS®混合光子計數探測器——高速數據采集

 - 640通道高速固態線性探測器。

 -同時多個通道集合使集合的速度比a快100倍。閃爍計數器 

 -使用硅片技術直接檢測x射線。 

 —全球1 x10 ^ 9計數的計數率/ s 

 -高速采集時間。

 - 32毫米x8毫米傳感器區域。

 -優良的信噪比和非常高的動態范圍。

 -熒光抑制模式

SPD硅點探測器- XRD和XRF在一個方便的包中。

 -能量甄別單通道固態探測器。

 -推薦用于高熒光的樣品(例如Fe和Co) 

 -不需要衍射光束單色器。

 —Kβ抑制功能 

 —粉使用Kα1模式集合,2或Kβ

 -使用XRF頻譜來協助樣品的化學鑒定,并改善搜索結果。

  優異的精確性

   我們的全合一軟件對粉末模式的數據采集和分析是基本定性和定量分析的*解決方案。XRDWIN的一些*的功能包括:儀器預熱和控制、數據采集、k-alpha 1和k-alpha 2分離、數據平滑、集成強度、背景擬合、峰搜索、峰擬合、強度比方法定量分析、尖峰法定量分析、晶粒尺寸和應變。另外還有ICDD數據庫搜索匹配和MDI Jade接口。我們提供無限的軟件支持。

 



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