徠卡DM3 XL微電子和半導體工業顯微鏡憑借大視場幫助您的團隊更快地識別缺陷，豐富的配置和優秀光學質量，提高您的收益率，充分體現德系工藝的水準。

在微電子和半導體行業中，檢驗、過程控制或缺陷和故障分析的速度至關重要。DM3 XL微電子和半導體顯微鏡檢測缺陷的速度越快，您做出響應的速度也就越快。

DM3 XL檢驗系統憑借大視場幫助您的團隊更快地識別缺陷，提高您的收益率。充分利用*的宏觀物鏡，視場寬敞30%。

徠卡DM3 XL微電子和半導體工業顯微鏡產品特點：

更多細節

使用DM3 XL顯微鏡能看到更多細節，這也意味著工作更高效。為快速掃描達到6"的大組件，DM3 XL提供*的宏觀物鏡。利用0.7x放大倍率，它可以即刻采集35.7mm的視場–比其他常規掃描物鏡寬敞30%，在宏觀物鏡下，缺陷無所遁形

LED照明

徠卡DM3 XL針對所有相襯觀察方法使用LED照明。LED照明可提供恒定的色溫，并在所有亮度等級下提供真彩色成像。在所有亮度等級下實現真彩色成像,自由調節,無需更換燈泡–無停機時間,可復制的結果,由于LED使用壽命長，耗電量低，因此還具有巨大的成本節約潛力。

種類豐富的載物臺

無論您想要檢驗的樣品是哪種類型，尺寸如何，Leica DM3 XL均有種類豐富的載物臺插件供您選擇：載物臺尺寸：150mmx150mm,載物臺插件：金屬插件、晶片支座或掩模支座,快速的粗略或精準載物臺定位。