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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學顯微鏡>顯微圖像分析系統> 徠卡Ivesta3自動清潔度分析儀定制

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徠卡Ivesta3自動清潔度分析儀定制

具體成交價以合同協議為準

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


上海辛茨精密儀器有限公司是一家專注于光學顯微解決方案,清潔度檢測設備生產銷售公司,公司擁有自主研發團隊、銷售團隊,售后服務團隊,我們在蘇州設有生產基地,并建立標準化光學檢測實驗室。

現依據ISO16232VDA19清潔度標準自行開發的清潔度分析系統、清潔度萃取設備已全替代進口產品,服務各大汽車零部件及動力電池客戶,為傳統汽車零部件及新能源汽車行業客戶提供整套一站式清潔度解決方案。

公司經營理念: 客戶至上、品質至上專業專注、合作共贏

我們堅信客戶的滿意是我們前進的動力,歡迎咨詢我司產品,我們將與您共前行。

 

主營業務:

1、汽車零部件清潔度檢測設備生產與銷售,提供自動清潔度分析系統,自動清潔度萃取設備,干法顆粒提取系統,清潔度檢測耗材,清潔度實驗室規劃建設,ISO16232/VDA19清潔度檢測培訓。

2清潔度檢測設備定制化服務OEM

3、根據用戶不同需求提供各類OLYMPUS奧林巴斯顯微鏡ZEISS蔡司材料顯微鏡,NIKON尼康顯微鏡,LEICA徠卡顯微鏡,并提供與顯微鏡配套的攝像裝置、圖像分析軟件、電動掃描臺、以及顯微鏡相關產品和技術服務。

4、代理銷售材料分析設備:SEM電子掃描顯微鏡,金相制樣設備,光譜儀,硬度計等材料檢測儀器。


汽車零部件清潔度檢測設備,清潔度分析儀,清潔度檢測儀,清潔度萃取設備,清潔度測試儀,清潔度無塵室,清潔度耗材銷售,ISO16232/VDA19清潔度標準培訓

產地類別 國產 應用領域 交通,航天,汽車,電氣

徠卡Ivesta3自動清潔度分析儀定制服務

徠卡Ivesta3自動清潔度分析儀定制


對不同尺寸的標準濾紙進行高精度掃描分析,并結合偏光光闌技術對顆粒進行反光和非反光的區分,以對金屬與非金屬顆粒的判定提供最直接的參考數據和影像。同時可依據不同長寬比的設定對纖維與非纖維進行精確分類,對于粘結顆粒可在實際視場下進行確認并采用數碼分割法進行分割,以確保實際判斷的準確性。


一、Ivesta3自動清潔度分析儀產品特點:

全自動運行掃描,無縫拼接技術

經過色差校正的高分辨率光學系統

采用像素解決方案

電腦控制和操作桿控制XY電動平臺

優化色溫恒定LED光纖照明

簡單而快捷的操作界面

掃描過程中的實時結果

大的可靠性和重復性

自動計算金屬顆粒,非金屬顆粒,纖維顆粒

二.Ivesta3自動清潔度分析儀系統性能

圖像捕獲:具有高分辨率實時彩色圖像捕獲能力,可以實時動態捕獲圖像序列,并自動拼接成一張完整的濾膜全貌圖片,顆粒無明顯錯位,保證分析精度。

可以縮小放大,實時觀察大圖中任意地方的局部放大圖,也可以全圖觀察。可回看任何一個顆粒。

一鍵流程化設計。

圖像標定:根據光學放大倍數定標圖像,為圖像測量提供測量基準。

動態設定分析閾值:為以后全圖分析提供提取目標的依據。

標準自定義加入:內置ISO16232/VDA19標準,用戶可以根據需要加入不同的分析標準,或選擇已有標準進行分析。軟件支持現行多種標準進行分析。

金屬、非金屬、纖維區分,按照ISO16232/VDA19等國際標準統計分析。

自動檢測分辨出微粒類型(金屬、非金屬、纖維)

評價參數(長度、寬帶、面積、纖維長度)

根據不同的測量任務分別來設置和儲存相應的配置

方便導出所有分析數據到EXCEL至數據庫

按照標準ISO 16232 計算工件清潔度代碼(CCC)

有效微粒處理(例如重疊微粒)

汽車清潔度顆粒檢測儀是精密設計的零部件清潔度分析系統,對過濾紙的殘留粒子進行檢測,重要的是能對工件的清潔程度進行可靠和再現性的評估。

本清潔度分析系統采用10倍像素解決方案,確保分析精度。

全自動清潔度分析系統會自動將顆粒分為以下三類:

金屬顆粒:通常是關注的,并且是關鍵的顆粒。

非金屬顆粒,不含纖維:這些顆粒和金屬顆粒一樣是關鍵性污染物顆粒。

纖維:這些顆粒在測試的準備和操作過程中是無法避免的。因此,即使有時候纖 維是濾膜上蕞大的顆粒,其關注度也是相對不高。

將顆粒預分為三類,可減少手動操作的工作量,并且蕞大限度的關注所有與實際操作相關的顆粒。

通過偏振鏡機構對濾膜進行二次掃描,并實現對濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統計和鑒別。 針對塑料、玻纖等同樣會產生反射的物體,系統會自動將其與金屬顆粒區分開,此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風險。

備注:

本設備設計參考理論依據

1.ISO 16232-7/VDA19對顆粒屬性定義

2、ISO 16232-7/VDA19分辨率定義

3、根據VDA 19.1理論:弱化/避開小顆粒測試是近來的發展趨勢,只有少數特殊案例,其部件間隙容差非常小,會要求分析長度在5~50μm的顆粒,在實際常規案例中,長度在5~50μm的顆粒是沒有相關性的,而且對這么小的顆粒進行分析工作量十分巨大,甚至會成為一種工作阻礙。因此,現在已將大于50μm的顆粒分析作為標準要求。





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