HKD-MX4R半導體LCD檢測金相顯微鏡

全新CSIS光路設計,無限遠色差校正光學系統，像質更好，分辨率更高，采用長壽命LED光源，提供出色的圖像質量，多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要，可用于明場、簡易偏光，微分干涉觀察；是新型FPD檢查顯微鏡

LCD檢測金相顯微鏡專為LCD行業TFT導電粒子壓痕， OGS壓痕、導電粒子、ITO檢測和工程分析設計。

性能特點

1、安全、穩重的機架結構設計
工業檢測級顯微鏡鏡體，低重心、高剛性、高穩定性金屬機架，

保證了系統的抗震能力與成像穩定性。其前置低手位粗微調同

軸調焦機構，內置100-240V寬電壓變壓器，可適應不同地區的

電網電壓。底座內部設計有風循環散熱系統，長時間使用也

不會使機架過熱。

2、反射照明器
單顆大功率5W白色LED照明，帶斜照明機構。切換至斜照明時，可以使物體表面不同材質部分

呈現立體圖案，增加觀察的對比度與視覺效果。

3、高性能物鏡轉換器
轉換器采用精密軸承設計，轉動手感輕巧舒適，重復定位精度高，物鏡轉換后的同心度也得到較好的控制，根據需求可配置不同孔位的轉換器。

4、轉軸式三目，瞳距調節范圍50-75mm，目視與CCD相機可同步觀察

5、內傾式五孔轉換器避免呼吸熱

氣對物鏡的影響，使用者擁有更

大的操作空間

6、的搬運把手設計

7、LMPL無限遠長工作距金相物鏡

 5X、10X、20X、50X（選配）
8、全新研發的U-DICR 微分干涉組件，

可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差

轉化為高對比度的明暗差并以

立體浮雕形式表現出來，

如LCD 導電粒子，精密磁盤表面劃痕等。