SANXTHICK600鍍鎳測厚儀技術參數 

1   分析元素范圍：S-U2   可分析多達3層以上鍍層3   分析厚度檢出限達0.02μm4   多次測量重復性可達0.05μm5   定位精度：0.5mm5   測量時間：30s-300s6   計數率：1000-8000cps

7  儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例，分析的范圍是0.02—30um，在這個范圍內，才能檢測。0.5-10um的，偏差是5%，就是說真值是1um，用儀器測試的值是0.95-1.05um。

SANXTHICK600鍍鎳測厚儀性能優勢

下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片手動切換：不同樣品材質用不同的準直器移動平臺：精細的手動移動平臺，方便定位測試點高分辨率探測器：提高分析的準確性新一代的高壓電源和X光管：性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率 

應用領域

鍍層厚度分析；RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測；

合金成分分析；

測試步驟

1.每天開機預熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”：用戶使用“Administrator”，密碼：skyray2.進入測試軟件后，選擇“測試條件”點擊“確定”，即測試條件確定（儀器已設置好）3.選擇“工作曲線”如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推4.放入“Ag片”對儀器進行初始化初始化完成后，（峰通道為1105，計數率達到一定的數，如300以上）。5.待測樣品測試放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標（也稱十字光標）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”，輸入樣品名稱后“確定”。6.測試完成后即可保持報告，報告的位置可以在桌面的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。