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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>物理特性分析儀器>測(cè)厚儀>鍍層測(cè)厚儀>Thick600 SANX鍍鉻測(cè)厚儀Thick600

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Thick600 SANX鍍鉻測(cè)厚儀Thick600

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 深圳市藝慈儀器有限公司
  • 品牌 SanX/三翔
  • 型號(hào) Thick600
  • 產(chǎn)地 昆山
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/1/10 12:05:55
  • 訪問(wèn)次數(shù) 920
產(chǎn)品標(biāo)簽

鍍鉻測(cè)厚儀Thick600

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深圳市藝慈儀器有限公司是國(guó)內(nèi)著名的高速分析儀器專業(yè)生產(chǎn)企業(yè),主營(yíng):RoHS2.0檢測(cè)儀,金屬合金分析儀,煙氣重金屬在線監(jiān)測(cè)儀,水質(zhì)空氣煙氣土壤重金屬在線監(jiān)測(cè)儀。型號(hào)EDX1800B,x熒光光譜儀,x射線熒光光譜儀,用于ROHS檢測(cè)、ROHS2.0檢測(cè),快速無(wú)損檢測(cè)篩選電子電氣設(shè)備、玩具、汽車ELV、醫(yī)療器械、監(jiān)控設(shè)備中有害物質(zhì)鉛、鎘、汞、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚 Pb、Hg、Cd、Br、Cr6 、PBB、PBDE。符合 較早的RoHS修訂指令2011/65/EU(RoHS 2.0)。公司集研發(fā)、生產(chǎn)、代理銷售為一體,專業(yè)的光譜儀器生產(chǎn)商本公司為廣大電子,電器,五金,塑膠,鞋材,鞋廠,皮具,箱包企業(yè)提供無(wú)鉛測(cè)試儀器,RoHs檢測(cè)儀,EN71~3檢測(cè)儀,玩具安全檢測(cè)儀,RoHs測(cè)試儀器 ,無(wú)鹵檢測(cè)儀器. X熒光光譜儀、ICP等儀器。

 

 

RoHS檢測(cè)儀,RoHS光譜分析儀,RoHS2.0檢測(cè)儀器,測(cè)厚儀,金屬合金元素分析儀,不銹鋼牌號(hào)檢測(cè)儀器,ROHS檢測(cè)儀器、rohs檢測(cè)儀、元素分析儀、x熒光光譜儀、液相色譜儀、分光光度計(jì)、X射線熒光光譜儀(XRF)、手持式便攜式礦石分析儀、古董鑒定儀、玩具安全檢測(cè)儀、鹵素ROHS檢測(cè)儀、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀、原子熒光光譜儀、氣相色譜儀、液相色譜等

價(jià)格區(qū)間 面議

SANX鍍鉻測(cè)厚儀Thick600技術(shù)參數(shù)

 

1.長(zhǎng)效穩(wěn)定X銅光管

2.半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng),摒棄液氮制冷

3.采用信噪比增強(qiáng)器(SNE)

4.內(nèi)置高清晰攝像頭,方便用戶隨時(shí)觀測(cè)樣品

5.脈沖處理器,數(shù)據(jù)處理快速準(zhǔn)確

6. 手動(dòng)開(kāi)關(guān)樣品腔,操作安全方便

7.三重安全保護(hù)模式

8.整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型高貴時(shí)尚

9.FP軟件,無(wú)標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)亦可測(cè)量

 

 

鍍鉻介紹



鍍鉻層具有很高的硬度,根據(jù)鍍液成分和工藝條件不同,其硬度可在很大范圍400~1200HV內(nèi)變化。鍍鉻層有較好的耐熱性,在500℃以下加熱,其光澤性、硬度均無(wú)明顯變化,溫度大于500℃開(kāi)始氧化變色,大于700℃硬度開(kāi)始降低。鍍鉻層的摩擦系小數(shù),特別是干摩擦系數(shù),在所有的金屬中是的。所以鍍鉻層具有很好的耐磨性。
鍍鉻層具有良好的化學(xué)穩(wěn)定性,在堿、硫化物、硝酸和大多數(shù)有機(jī)酸中均不發(fā)生作用,但能溶于氫氯酸(如鹽酸)和熱的硫酸中。

在可見(jiàn)光范圍內(nèi),鉻的反射能力約為65%,介于銀(88%)和鎳(55%)之間,且因鉻不變色,使用時(shí)能長(zhǎng)久保持其反射能力而優(yōu)于銀和鎳。

 

SANX鍍鉻測(cè)厚儀Thick600測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

 

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence 

 

硬件配置 

                                      

1 探測(cè)器1.1. 電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器分辨率:160±5電子伏特;1.2. 對(duì)樣品特征X射線進(jìn)行探測(cè);把探測(cè)采集的信息,進(jìn)一步放大。   

2 光管2.1. 使用壽命大于2萬(wàn)小時(shí);2.2. 產(chǎn)生X射線激發(fā)樣品。

3 高、低壓電源3.1. 管壓:5KV~50KV,管流為1000uA;3.2. 為X光提供電源。

4 放大電路:                              

4.1.對(duì)采集來(lái)的信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,并將處理結(jié)果傳輸給計(jì)算機(jī)。

5 高清晰攝像頭        5.1試樣觀察;

6 移動(dòng)平臺(tái)(自動(dòng))       

3.6.1樣品微調(diào)移動(dòng)平臺(tái),保證樣品測(cè)試位置準(zhǔn)確性。

7 樣品腔

8 準(zhǔn)直器

9 標(biāo)準(zhǔn)樣品(歐盟標(biāo)樣):

11.1 0#標(biāo)樣、塑膠標(biāo)樣、銀校正片各一片。



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