顯微分光光度計
美國CRAIC 20/30 PV顯微分光光度計，是CRAIC公司的新型號，集成了紫外－可見－近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統于一身，根據產品不同，可以做紫外-可見-近紅外（200-2500nm）的光譜分析，還可以集成顯微拉曼系統，同時科研級光譜儀和高分辨彩色數字成像系統都使用了新的顯微鏡光路系統及科研級光學接口。結合顯微學和光譜學的優勢，用于微小樣品或樣品的微小區域的光譜和色度分析，并通過對樣品的反射、透射、熒光及偏振光譜、拉曼測量，完成微量物樣分析。具有科研級高分辨探測器（CCD），半導體制冷探測器，增強穩定性；科研級光學接口，高分辨彩色成像系統。新的操作系統，應用軟件使用簡單，操作方便。
開創性20/30 PV系列顯微微分光度計為全光譜顯微譜學設立了新的標準。具有前沿科技水平的20/30 PV系列可在樣品采樣區域進行吸收、透射、反射、熒光以及拉曼等光譜數據采集和成像。光譜范圍從紫外到近紅外，具有自動化控制的光譜和圖像分析軟件，擁有自動化、簡便性和長時間穩定性的特性。20/30 PV系列可應用的領域包括材料科學、工業顯微觀測、法醫痕跡鑒證、生物樣品分析測試等。
高靈敏度固體陣列探測器使用熱電冷卻，具有較高的信噪比和長時間穩定性。高分辨數字成像系統通過CCD收集深紫外和近紅外照射后樣品的高分辨彩色圖像。完善而強大的軟件功能不僅控制顯微鏡、光度計和數字成像，還能提供*的分析處理能力，如薄膜厚度測量等。
測量結果： 1、透射光譜/成像 2、反射光譜/成像 3、熒光光譜/成像 4、磷光光譜/成像 5、偏振光譜/成像 6、拉曼光譜 7、膜厚測量、色度測量、折射率測量 |
主要參數：
光譜范圍 | 200-2500nm |
成像 | 深紫外到近紅外 |
熒光光譜范圍 | 300-1000nm |
熒光激發 | 250-546nm |
采樣面積 | 1-100um |
光譜分辨率 | 1-15nm可調 |
檢測器 | CCD、InGaAs |
檢測器制冷 | 熱電 |
掃描時間（全光譜） | 4ms |
Apollo II 拉曼顯微光譜
激發源 | |
波長（nm） | 405、532、638、785、830 |
帶寬 | <0.02nm |
最大輸出功率 | 50-100mW |
光譜儀 | |
光譜范圍 | 50-3000cm-1 |
光譜分辨率 | 10cm-1 |
采樣區域 | 1um（10X@785nm） |
主要特點
- 穩定、可靠、高性能
- 紫外-可見-紅外 吸收、反射、熒光光譜及成像
- 可集成1-3個激發源
- 可升級共聚焦顯微鏡
- 可選高空間分辨率拉曼光譜Mapping
- 可選拉曼動態顯微鏡
- 提供NIST可追溯樣品
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