Toho FLX-2320-S 薄膜應力測量系統
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 韋氏納米系統(深圳)有限公司
- 品牌
- 型號 Toho FLX-2320-S
- 產地 日本
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2018/8/22 11:03:13
- 訪問次數 1742
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薄膜應力測量:
在硅片等基板上附膜時,由于基板和薄膜的物理定數有異,產生應力,進而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現為基板的翹曲,而薄膜應力測量裝置FLX系列可從這個翹曲(曲率半徑)的變化量測量其應力。
技術參數:
Toho FLX-2320-S薄膜應力計精確測量多種襯底材料、金屬和電介質等薄膜應力。
主要特點:
◆雙光源掃描(可見光激光源及不可見光激光源),系統可自動選擇最適合的匹配之激光源;
◆系統內置升溫、降溫模擬系統,便于量測不同溫度下薄膜的應力,溫度調節范圍為-65℃至500℃;
◆自帶常用材料的彈性系數數據庫,并可根據客戶需要添加新型材料相關信息至數據庫,便于新材料研究;
◆形象的軟件分析功能,用于不同測量記錄之間的比較,且測量記錄可導出成Excel等格式的文檔;
◆具有薄膜應力3D繪圖功能。
用戶界面:
WINDOWS OS易懂操作界面。
另搭載豐富的基板材料數據庫。自動保存測量數據等方便性能。
每個用戶可分別設定訪問權限。使用自帶軟件實現簡單卻性能高,簡單測量。