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FLEX™ FLEX™顯微分光光度計

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顯微分光光度計

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 xianweij


徠卡顯微鏡 金相顯微鏡 偏光顯微鏡 數碼顯微鏡 超景深顯微鏡 體視顯微鏡

來自CRAIC的FLEX™是一款經濟但功能齊全且配置靈活的儀器,采用Lightblades™分光光度計,結合了紫外-可見-近紅外光學系統,數字成像系統和軟件,采用模塊化設計,使FLEX™成為一種強大而耐用的科學儀器,可以對微米級的樣品點進行無損的吸收、反射和熒光光譜測試。

憑借具有吸引力的價格,FLEX™顯微分光光度計利用測試技術,可以測量微觀樣品區域的紫外 - 可見 - 近紅外范圍透射率、吸光度、反射率、發射光譜和熒光光譜。當光譜正在被采集時,樣品可以與高分辨率彩色數字成像系統或目鏡同時成像,另外的特征還可以包括測量微觀樣品的折射率以及微量測定和薄膜厚度測量。

FLEX™顯微分光光度計的設計旨在以吸引力的價格提供優質的圖像和光譜。

                            <strong><strong><strong><strong>FLEX™顯微分光光度計</strong></strong></strong></strong>

 

應用領域:
痕跡證據
法醫藥物化學
LED/ OLED彩色平板
半導體薄膜厚度
MEMS器件
表面等離子體共振
過程雜質檢測
蛋白質晶體
組合化學

 

FLEX™參數

光譜學類型 紫外-可見-近紅外吸光度,反射率,熒光,光致發光,偏振 
顯微拉曼 可選Apollo II™ 
薄膜厚度 ≥15nm 
微動力 可選 
5D Mapping 可選 
微比色法 可選 
光譜范圍 240-900nm 
成像范圍 高分辨率彩色 
熒光激發 365-546nm 
熒光發射 400-900nm 
探測器類型Lightblades™
探測器 CCD和inGaAs陣列 
探測器冷卻 TE制冷 
光譜分辨率 1-15nm 
采樣面積 1-10000µm²  
 


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