508 PV™能夠與任意開放接口的顯微鏡或者探針臺結合使用，增加光譜學、彩色成像、薄膜厚度測量和比色測量功能，非常適用于各種應用，如平板顯示器上像素的比色測定、煤鏡質體和巖相的反射率測量或光學和半導體的薄膜厚度測量，能夠很簡便快速的獲得光譜和圖像，甚至是數字視頻。選擇不同的顯微鏡配置，能夠從微光樣品中獲得吸收、透射、反射、偏光和熒光顯微光譜。CRAIC提供的顯微鏡為顯微光譜儀經過特別設計，能夠得到很大的光譜范圍、增強的信噪比和優秀的成像能力。

      508 PV™顯微分光光度計所擁有的前沿技術，能用來升級老版的顯微分光光度計。508 PV™采用新的Lightblades™分光光度計，采用TE冷卻保證長期穩定性和低噪聲水平，科研級顯微鏡，校準的可變孔徑，通用C-mount接口以及整合光譜分析、圖像處理和設備控制的*Lambdafire™控制軟件包。設備性能穩定性，操作簡便，能實現多年*運行。

 508 PV™參數