日本JUNO 替代品 易恩熱阻測試儀
ENR0620 熱阻測試系統
系統概述 | |||||
近年來由于電子產業的蓬勃發展,電子組件的發展趨勢朝向高功能、高復雜性、大量生產及低成本的方向。組件的發熱密度提升,伴隨產生的發熱問題也越來越嚴重,而產生的直接結果就是產品可靠度降低,因而熱管理(thermalmanagement)相關技術的發展也越來越重要。電子組件熱管理技術中常用也是重要的考量標準之一就是熱阻(thermal resistance) 西安易恩電氣ENR0620 熱阻測試系統,本系統測試原理符合 JEDEC51-1 定義的動態及靜態測試方法)運用實時采樣靜態測試方法(Static Method),廣泛用于測試各類 IC(包括二極管、三極管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等)、大功率 LED、導熱材料、散熱器、熱管等的熱阻、熱容及導熱系數、接觸熱阻等熱特性。 | |||||
測試功能 | |||||
測試器件 | 測試功能 | ||||
IGBT | 瞬態阻抗(Thermal Impedance) 從開始加熱到結溫達到穩定這一過程中的瞬態阻抗數據。 | ||||
MOSFET | |||||
二極管 | 穩態熱阻(Thermal Resistance) 包括:Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 當器件在給一定的工作電流后。熱量不斷向外擴散,達到了熱平衡,得到的結果是穩態熱阻值。在沒有達到熱平衡之前測試到的是熱阻抗。 | ||||
三極管 | |||||
可控硅 | |||||
線形調壓器 | 裝片質量的分析 主要測試器件的粘接處的熱阻抗值,如果有粘接層有氣孔,那么傳熱就要受阻,這樣將導致芯片的溫度上升,因此這個功能夠衡量粘接工藝的穩定性。 | ||||
LED | |||||
MESFET | |||||
IC | 可以得到用不同占空比方波測試時的阻抗與熱阻值。 | ||||
| 內部封裝結構與其散熱能力的相關性分析 | ||||
| 多晶片器件的測試 | ||||
| SOA Test | ||||
| 浪涌測試 | ||||
配置 / 系統單元 | |||||
配置 | 組成單元 | ||||
項目 | 配置 | 主機 | 平臺軟件 | ||
功率 | 2A/10V | 采樣單元 | 測量控制軟件 | ||
測試延遲時間 (啟動時間) | 1us | 數控單元 | 結果分析軟件 | ||
采樣率 | 1us | 功率驅動單元 | 建模軟件 | ||
測試通道數 | 2(大 8 個) | 測試通道1-8個 |
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功率放大器 | 提高驅動能力10~100 倍 | 擴展選件 |
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電性規格 | 系統特征 | ||||
加熱 電流 測量 精度
| 低電流 測量 | 02A 系統: ±1mA 10A 系統: ±5mA 20A 系統: (±10mA) | ●測試啟動時間僅為 1 s,幾分鐘之內就 可以得到器件的全面熱特性; | ||
●*的靜態實時測量方法,采樣間隔快可達 1 s, 采樣點高達 65000 個,有效地保證了數據的準確性和完備性; | |||||
高電流 測量 | 02A 系統: ±4mA 10A 系統: ±20mA 20A 系統: (±40mA) | ||||
●市場上的靈敏度 FoM=10000 W/℃,很高的靈 敏度 SNR>4000, 結溫測試精度高達 0.01℃; | |||||
加熱電壓測量精度 | ±0.25% , | ||||
0~50V 熱電偶 測量精度( T 型) | 典型 ±0.1°C , 大±0.3°C | ||||
●強大的測試軟件和數據分析軟件保證了后期擴展功能的提升。 | |||||
交流電壓 | 220VAC,5A,50/60Hz | ||||
電壓 | (標配)50V | ||||
電流 | (標配)20A (選配)200A,400A,800A,1000A |
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節溫感應電流 | 1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(標配) |
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測試原理
根據IEDEC靜態測量原理,改變器件輸入功率,使器件溫度發生變化,在達到熱平衡之前,ENR0620以1uS的高速采樣率實時記錄溫度隨著時間變化的瞬態響應曲線;在得到溫度響應后,根據R_thiA=T / P 計算穩態熱阻;將上述瞬態響應轉換為結構函數形式,方便用戶分析器件熱流傳導路徑上的各層結構。系統未采用“脈沖方法”。因為“脈沖方法”采用延時測量技術,限制了測量精度,且“脈沖方法”在測量瞬態溫度響應市應非實時記錄數據。而是通過人為構建脈沖加熱功率來模擬瞬態過程,測試結果的精確性無法保證。