X-Strata920是一款簡潔、堅固和可靠的質量控制XRF臺式熒光系統，用于簡便、快速的鍍層厚度測試和材料分析。

The X-Strata920可應用于常規金屬處理、電子元器件制造和金屬測定（如珠寶鑒定）等行業，完成單層或多層厚度測量。

主要特點包括：
成本低、快速、非破壞的EDXRF分析 
可完成至多4層鍍層（另加底材）和15個元素的鍍層厚度測試，自動修正X射線重疊譜線 
的多元素辨識，廣泛覆蓋元素表上從鈦（原子序數22號）到鈾（92號）各元素 測厚行業20年知識和經驗的積淀

使用廣受推崇的能量色散X射線熒光（EDXRF）技術, X-Strata920可實現如下測試要求：
符合ISO3497標準測試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測量鍍層厚度

符合ASTM B568標準測試方法：X射線光譜儀測量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層 

至多同時分析25種元素

“井深式”樣品倉設計，可以測量很小到很大的廣泛尺寸的樣品/零件 ，可測量樣品大高度為160mm (6.3”)。樣品臺支架可放置在“深井”中的4個位置的卡槽上，使得不同樣品都可以方便地測量。
樣品臺支架放置在標準位置（上層）時，就是“開槽式樣品倉”，可以測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測點。
Z軸自動控制（Z向行程：43mm/1.7”） §樣品倉內部尺寸：152 x 279 x 508mm (6 x 11 x 20") (高x寬x深D)

經實踐驗證、堅固、耐用的設計，可在絕大多數嚴苛的工業條件下使用。
空間占用小 –節約寶貴的工作臺空間，也可近產線放置。
§計算機提供USB和以太網接口用于連接打印機、光驅和網絡。

鐳射用于自動精確定位X射線光管/檢測器與被測樣品到佳測試距離。
“一鍵操作”將測試頭移動到佳位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在屏幕上）。
自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性，并將人為測量誤差降到低.
注：測試距離為12.7mm (0.5”)，由X射線測試頭自動調節高度（Z軸）。

牛津儀器生產的、經實踐驗證的50瓦X射線光管 
微聚焦型鎢靶X射線光管，產生高通量X射線，經過準直器，得到細束X射線。 這個“聚焦X射線束”可對小樣品或者樣品上小測試點進行高精度的分析。

高分辨率、大面積、封氙氣的正比例計數器 
結合二次濾波器來大化靈敏度，以獲得佳元素檢測。

包含二次濾波機制和鈷濾波器用于X射線重疊譜的修正。
標準鈷（Co）濾波器，用于同時含有鎳（Ni）和銅（Cu）的樣品，如 ：NiP/Cu, **/Ni/Cu, **/Ni/Cu alloy。 注 1)：** 指樣品上層其他元素 注2)：本配置包包含一個Co二次濾波器，多可裝三個濾波器。