斷層成像、熒光、冷凍技術

Xradia 800 Synchrotron：硬 X 射線納米斷層成像技術
三維 X 射線斷層成像能夠提供內部結構的詳細體積數(shù)據，而無需對感興趣的區(qū)域進行切割或切片處理。工作能量范圍為 5-11 keV，可利用 <30 nm 的分辨率對不同種類的樣品成像，包括電池和燃料電池的電極材料、催化劑及軟硬組織等。Xradia 800 Synchrotron 是*技術的理想之選 ，如用于三維化學分布和原位成像的 XANES 光譜學-顯微成像技術，能夠讓您在實際操作環(huán)境條件下研究材料特性。

Xradia 825 Synchrotron：軟 X 射線納米斷層成像技術
在軟 X 射線波長范圍內完成三維斷層成像，包括能量從“水窗”波段到2.5 keV 的中能波段，非常適合于完整細胞和組織的結構成像。低溫樣品處理可以實現(xiàn)對含水樣品進行成像，在盡可能保持樣品接近自然狀態(tài)的情況下，更大限度地減少輻射損傷的影響。其他應用還包括有機和無機材料的化學態(tài)分布及磁疇成像。

Xradia 835 Synchrotron：X 射線熒光顯微技術
硬 X 射線納米探針非常適合于借助超高靈敏度進行痕量元素分布和定量分析的應用。這類應用可能包含金屬和功能性納米顆粒在健康與疾病領域中的效用、植物內攝入的重金屬、太陽能電池及其它功能性材料中的污染和缺陷。Xradia 835 Synchrotron 是一套靈活且可擴展的平臺，它將蔡司波帶片光學器件與 X 射線熒光、光譜和衍射等已有的分析技術相結合。低溫樣品處理能在需要高分辨率成像的生命科學應用中更大限度地減少輻射損傷的影響。