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ScanAsyst-Air 布魯克BrukeAFM探針 ScanAsyst Air

具體成交價以合同協議為準

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      世普藍華(北京)科技有限公司是一家年輕的高科技公司,主要從事表面科學、分析儀器、實驗室儀器及單晶材料的服務和銷售,為科研、檢測及生產提供完整可靠的解決方案。銷售的儀器主要有美國TSI、泰斯肯(Tescan)、布魯克(Bruker)等世界的高精度分析儀器、表面檢測儀器、生產設備,以及配套的耗材和配件;銷售的單晶材料主要有:磷化銦( InP)、銻化鎵(GaSb)、砷化銦(InAs)。這些產品廣泛應用于半導體、平板顯示、太陽能、電子等各個領域。

       展望將來,公司將會引進更多的表面檢測和化學分析的測試儀器,為客戶提供測試測量技術開發、產品配套、系統集成(軟、硬件)、維修、租賃、第三方儀器設備外包管理、采購管理、咨詢服務以及保稅庫物流配套服務等。并將更多專業的應用技術滲透到日常服務中去,更便捷、更周到地滿足客戶需求。對世普藍華而言,客戶需要的正是我們所追求的,是我們孜孜以求的坐標和不斷超越的動力!在未來激烈多變的市場競爭中,世普藍華將與客戶一起攜手并進,共創輝煌。

原子力顯微鏡,AFM探針,納米壓痕儀,

供貨周期 一周 規格 空氣中智能成像模式
主要用途 原子力顯微鏡成像

布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 智能成像模式 空氣中 ScanAsyst Air

ScanAsyst  Air,是空氣中智能成像模式ScanAsyst 探針,僅適用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve.

ScanAsyst®利用一種專門的曲線采集方法和復雜的算法,對圖像質量進行持續的監測,并能自動地對參數進行適當的調整。因此:

- 無論用戶的專業技術水平如何,圖像自動優化都能更快獲取更*的結果。

- 可直接控制力的強弱,調到超低力,從而保護易碎樣品和針尖不受損壞。

 實現了懸臂調節的消除,定位調整,獲得大優化讓液態成像變得簡單。

氮化硅單懸臂探針,所有ScanAsyst針尖都有<2度的懸臂彎曲。

詳細規格:

延展閱讀:

關于布魯克:

布魯克公司以*的生產工藝,專業的AFM領域背景,得天獨厚的生產裝備,賦予探針制造眾多的優勢,確保在較廣泛的應用領域中提供完整的AFM解決方案。

 

布魯克AFM探針制造中心*優勢:

*Class100級別的無塵室

**的設計、制造工序及制造工具

*探針設計團隊與AFM設備研發團隊通力合作,配合緊密

*訓練有素的生產團隊,制造出各種型號的探針

*全面的質量管理體系,確保探針性能

 

在實驗中,用戶所得到的數據取決于探針的質量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制,全面的質量測試,和AFM領域的專業背景。所以用戶盡可放心,我們的探針不僅為您當前的應用提供所需的結果,同時也能為將來的研究提供參考數據。

 

原子力顯微鏡AFM探針:  

探針的工作模式:主要分為:掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結構:懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius:一般為10nm到幾十nm。

制作工藝:半導體工藝制作

 

指標:

探針的指標主要分三個部分,分別對應了基片,微懸臂梁,和針尖三個部分。

1. 基片,就是基片的長,寬,高,各種探針的基片尺寸是基本*的。

2. 懸臂梁,分為矩形梁和三角形懸臂梁,他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數和共振頻率。而彈性常數K是探針的很重要的一個參數,一般來說,接觸模式的探針的彈性常數小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數是40N/m。

3. 針尖,針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標主要有,曲率半徑(Tip Radius),探針高度(Tip Height),對應于四面體的指標,前角(Front Angel),后角(Back Angel),側角(Side Angel),還有一個是Tip Set Back,對應的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。

材質:

1. 輕敲探針:一般是單晶硅,型號如RTESP;

2. 接觸模式探針:材質是SiN,而新型號的SNL接觸探針,懸臂梁是SiN,而針尖則Si(曲率半徑2nm左右),這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖;

3. 功能探針:如磁力探針(MESP),導電探針,則是在普通的硅探針的基礎上再鍍上相應的材料。MESP的鍍層是Co/Cr,SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹:

  常用探針型號介紹

1. 輕敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP

2. 接觸模式,SNL,NP,

3. 智能掃描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡,MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡,導電AFM,等電學測量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。

6. 其他特殊功能探針。如金剛石探針,大長徑比探針。

 

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