布魯克Bruker原子力顯微鏡探針AFM探針 輕敲模式—Rtespa 300

Rtespa 300，是輕敲模式/TappingMode的旗艦產(chǎn)品，適用于軟硬適中的樣品。

Tap300：40N / m，300kHz，不對稱*，鋁反射涂層。

布魯克生產(chǎn)的MPP系列探針，是高性能和高質(zhì)量成像的AFM探針，適用于各種各樣的樣品。

10根一盒裝硅探針，用于TappingMode和其他非接觸模式，適用于各種AFM。

新的Rtespa 系列探針，相較于傳統(tǒng)的MPP，進行了技術(shù)改良及優(yōu)化，擁有更優(yōu)秀的成像：

加工中精準控制的懸臂幾何尺寸、銳利的針尖，減小了AFM小可檢測尺寸，更長的針尖減小擠壓膜阻尼。

新的設計改進了以下幾方面:

•更嚴格的尺寸規(guī)格，以改善探針的*性

•針尖與懸臂的更緊密結(jié)合，使激光更容易定位

•改進探針質(zhì)量和外形

•該探針適用于任何AFM，若需要無鋁涂層，請選擇RTESP-300。

詳細規(guī)格：

延展閱讀：

關(guān)于布魯克：

布魯克公司以*的生產(chǎn)工藝，專業(yè)的AFM領(lǐng)域背景，得天獨厚的生產(chǎn)裝備，賦予探針制造眾多的優(yōu)勢，確保在較廣泛的應用領(lǐng)域中提供完整的AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造中心*優(yōu)勢：

*Class100級別的無塵室

**的設計、制造工序及制造工具

*探針設計團隊與AFM設備研發(fā)團隊通力合作，配合緊密

*訓練有素的生產(chǎn)團隊，制造出各種型號的探針

*全面的質(zhì)量管理體系，確保探針性能

在實驗中，用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制，全面的質(zhì)量測試，和AFM領(lǐng)域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心，我們的探針不僅為您當前的應用提供所需的結(jié)果，同時也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù)。

原子力顯微鏡AFM探針:  

探針的工作模式：主要分為：掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結(jié)構(gòu)：懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius：一般為10nm到幾十nm。

制作工藝：半導體工藝制作

指標：

探針的指標主要分三個部分，分別對應了基片，微懸臂梁，和針尖三個部分。

1. 基片，就是基片的長，寬，高，各種探針的基片尺寸是基本*的。

2. 懸臂梁，分為矩形梁和三角形懸臂梁，他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數(shù)和共振頻率。而彈性常數(shù)K是探針的很重要的一個參數(shù)，一般來說，接觸模式的探針的彈性常數(shù)小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數(shù)從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數(shù)是40N/m。

3. 針尖，針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標主要有，曲率半徑(Tip Radius)，探針高度（Tip Height），對應于四面體的指標，前角（Front Angel），后角（Back Angel），側(cè)角（Side Angel），還有一個是Tip Set Back，對應的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。

材質(zhì)：

1. 輕敲探針：一般是單晶硅，型號如RTESP；

2. 接觸模式探針：材質(zhì)是SiN，而新型號的SNL接觸探針，懸臂梁是SiN，而針尖則Si（曲率半徑2nm左右），這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖；

3. 功能探針：如磁力探針（MESP），導電探針，則是在普通的硅探針的基礎上再鍍上相應的材料。MESP的鍍層是Co/Cr，SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹：

  常用探針型號介紹

1. 輕敲模式，RTESPA-300，TESP，F(xiàn)ESP

2. 接觸模式，SNL，NP，

3. 智能掃描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡，MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡，導電AFM，等電學測量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。

6.  其他特殊功能探針。如金剛石探針，大長徑比探針。