GDJD-600型高、低溫介電性能測量系統
  
GDJD-600型高低溫介電性能測量系統（四通道測試，同時測試4個樣品） 
關鍵詞：高低溫介電測量儀，高、低溫介電測量系統， 

產品介紹： 
   GDJD-600型高溫介電性能測量系統主要應用于高低溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數、介電損耗、電容等參數，同時測試出測試材料的其他阻抗參數，廣泛應用于陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究 。 
一、產品優勢: 
1.實現室溫-140°C-800°C的低高溫介電轉換測量 
2.四通道測試,可以同時測試1-4個樣品，方便快捷 
3.數據分析軟件:提供多種掃描曲線,可以在多窗口之間切換數據 
二、《符合ASTMD150和 D2149-97標準>> 
<<符合GB/T1409-2006介電常數和介電損耗的*方法;》 
三、產品特點 
1.可以在低高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能； 
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時間譜等測量功能; 
3.可以測量樣品的介電常數、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質因數Q，阻抗Z等物理量;以實現介電常數和介電損耗隨多個溫度、多個頻率變化的曲線，時間和電壓變化的曲線； 
4、可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求。 
主要技術指標： 
測量溫度： -160°C-800°C     升溫斜率：2°C /min 
頻率范圍：20-30MHZ     精度：0.05% 
測量精度： ±0.1°C     控溫精度：±1°C（PID精準控溫） 
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好     測試方法：兩線法或四線法 
測試通道數：1-4通道     一次可測樣品數：1-4個樣品 
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸     測量精度：0.05% 
AC電平：  0V 到 1V rms     直流偏壓：0到±40V/100mA 
數據存儲：EXCEL表格等多種格式     加熱方式：電阻絲加熱 
真空度范圍：100 Pa-1大氣壓     電極材料：鉑金 
數據傳輸：4個USB接口     儀器通訊：USB或GPIB