L200/D 集成電路檢查顯微鏡
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- 公司名稱 東莞市同創集團有限公司
- 品牌
- 型號 L200/D
- 產地 日本
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2017/8/21 15:32:09
- 訪問次數 451
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NIKON將CFI60光學系統用于集成電路檢查顯微鏡，由此獲得*的高對比度圖象。
CFI60光學系統是將尼康*的CF（消色差）設計與無限遠光學系統結合在一起，使得物鏡不僅工作距離更長，而且數值孔徑更高；符合SEMI S2-93A,S8-95S設計；利用計算機輔助工程系統（CAE）隊機身進行防震設計；具有全面的防污染措施。
NIKON集成電路檢查顯微鏡ECLIPSE L200/D規格
| 調焦機構 | 行程29mm,粗調12.7mm/轉， 微調0.1mm/轉 1µm/格 |
| 反射照明器 | 12V100W鹵素燈；電動孔徑光闌（中心可調） 固定型視場光闌；可選配小孔光闌 |
| 透射照明器 （僅L200D） | 12V100W鹵素燈；內置式孔徑光闌； LWD聚光器 |
| 物鏡轉換器 | 固定式六孔*物鏡轉換器（電動），具有DIC插槽。 |
| 目鏡筒 | 超寬視場可傾式三目鏡筒 |
| 載物臺 | 8X8載物臺（205X205mm）（透射50X150mm） 粗微移動可以互相轉換，X-Y方向微動手柄位置固。 |
| 目鏡 | CFI目鏡系列 |
| 物鏡 | CFI LU/L PLAN系列 |
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