產(chǎn)品規(guī)格：

●外形尺寸    ：470 mm x 560mm x 1030 mm （長(zhǎng)x寬x高）
● 樣品倉(cāng)尺寸    ：Φ188mm×88mm （直徑x高）
●儀器重量      ：95kg
●供電電源    ：AC220V/ 50Hz
●zui大功率    ：1000W
●工作溫度    ：15-30℃
●相對(duì)濕度    ：≤85%，不結(jié)露

產(chǎn)品應(yīng)用范圍：

合金分析
● 可精確檢測(cè)銅、鋼、錫等合金中Al、Si、P、S、Cu、Fe、Zn、Ni、Cr、Pb、Mn、Ag等元素
● 對(duì)于輕基體合金，具有非常好的檢測(cè)能力
無(wú)鹵檢測(cè)
● 抽真空排除空氣中Ar的干擾，使測(cè)氯達(dá)到*的穩(wěn)定和準(zhǔn)確！
玩具安全 
● 應(yīng)對(duì)EN71-3和ASTM963－11指令檢測(cè)Pb、Cr、Ba、Hg、Cd、Sb、Se、As、8大元素，以及新玩具指令的Pb、Cr、Ba、Hg、Cd、Sb、Se、As、Co、Cu、Zn、Mn、Sr、Sn、Ni元素含量檢測(cè)。
鍍層測(cè)厚
● 各種基材鍍Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn、Cr等
RoHS指令應(yīng)對(duì)
●60秒出檢測(cè)結(jié)果
●世界*的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度；

產(chǎn)品硬件配置：

探測(cè)器
● 類(lèi)型：X-123探測(cè)器（采用原裝風(fēng)進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器）
● Be窗厚度：0.5mil
● 晶體面積：25mm2
● *分辨率：125eV
● 信號(hào)處理系統(tǒng)DP5
X射線管
● 電    壓    ：0~50kV
● zui大電流    ：2.0mA
● zui大功率    ：50W
● 靶    材    ：Mo
● Be窗厚度 ：0.5mm
● 使用壽命    ：大于2萬(wàn)小時(shí)
高壓電源
● 輸出電壓：0~50kV
● 燈絲電流：0~2mA
● zui大功率：50W
● 紋波系數(shù)：0.1%（p-p值）
● 8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%
攝像頭
● 微焦距
● 免驅(qū)動(dòng)
● 500萬(wàn)像素
準(zhǔn)直器、濾光片
● 快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)
●多種材質(zhì)準(zhǔn)直器
●光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm 
● 多種濾光片、準(zhǔn)直器組合，軟件自動(dòng)切換
真空泵
●雙級(jí)旋片式真空泵
● 功率：400w
● 抽吸速率：8m3/h
其他配件
●進(jìn)口高性能開(kāi)關(guān)電源
●進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇

產(chǎn)品特點(diǎn)：

•儀器外觀采用汽車(chē)噴漆工藝，并采用雅致白與寶藍(lán)色搭配，張顯儀器科技與時(shí)尚的融合
可視化樣品倉(cāng) 
•樣品窗采用鉛玻璃，在測(cè)試過(guò)程中可直接觀查樣品。 
 ●多樣品測(cè)試 
•多樣品連續(xù)測(cè)試，無(wú)人值守，節(jié)省您的寶貴時(shí)間。 
 分析時(shí)間短 
•與普通的EDXRF相比，分析時(shí)間短； 
•普通EDXRF分析時(shí)間：300秒，HeLeeX E9分析時(shí)間：120秒。 
 真空/氦氣雙光路 
•國(guó)內(nèi)外，真空/氦氣雙光路系統(tǒng)，可檢測(cè)固體、液體、粉末樣品中的輕元素，如Al,Si,P,S,Cl。 
輻射防護(hù) 
•  迷宮設(shè)計(jì)，鉛玻璃防護(hù)； 
• X射線管后照射； 
• 誤操作應(yīng)急系統(tǒng)，0.5uS快速切斷X射線； 
• 國(guó)家機(jī)構(gòu)出具的儀器輻射安全報(bào)告。 
易搬運(yùn) 
• 儀器底部有四個(gè)移動(dòng)輪子，可根據(jù)需要固定或者移動(dòng)。 
易更換 
• 樣品測(cè)試薄膜易更換； 
• 模塊化準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng)，根據(jù)不同客戶，不同測(cè)試樣品配備不同材質(zhì)不同孔徑準(zhǔn)直器。 
易操作 
• 軟件界面簡(jiǎn)潔，易操作，30分鐘即可學(xué)會(huì)； 
• 配備儀器操作流程圖，儀器操作、儀器維護(hù)更簡(jiǎn)單； 
數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確 
• 軟件配備三種軟件算法，根據(jù)不同材質(zhì)配置； 
• 自主研發(fā)高低能量獨(dú)立算法，有效提高低能元素分辨率； 
• 普通EDXRF分辨率：149eV，HeLeeX E9分辨率：125eV； 
優(yōu)秀的輕元素分析能力 
• 測(cè)試P、S更高的分辨率、檢出限（如右圖）。 • S元素標(biāo)準(zhǔn)偏差20ppm。 
• 測(cè)試誤差5%