電鏡SEM高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣
- 公司名稱 海德創(chuàng)業(yè)（北京）生物科技有限公司
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- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2017/5/12 17:22:56
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Microanalysis Element Standards微元素分析標(biāo)樣電鏡元素分析標(biāo)樣標(biāo)準(zhǔn)樣SEM高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣
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電鏡SEM高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣
圖象的分辨率是掃描電鏡的zui重要技術(shù)指標(biāo)，它反映儀器的綜合性能。只有綜合性能良好的儀器才能獲得具有zui小球差、色差、畸變及象散的高分辨圖象。掃描電鏡的分辨率一般由可以檢測(cè)到的zui小間距和圖象的灰度共同決定。
電鏡SEM高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣，又稱碳基金標(biāo)樣，將金原子鍍膜在厚度約2mm的基質(zhì)上，在中高度分辨率測(cè)試中，不同大小的金粒子（<2nm-30nm）會(huì)產(chǎn)生不同的間隙。本品可用于像散校正和分辨率檢測(cè)，推薦用于放大率在50000×及以上的儀器。
訂購(gòu)信息：
貨號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 |
79511-01 | Very High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub | 個(gè) |
79511-02 | Very High Resolution Au-C Test on JEOL Stub | 個(gè) |
79511-03 | Very High Resolution Au-C Test on ISI Stub | 個(gè) |
79511-04 | Very High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub | 個(gè) |
79511-05 | Very High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet | 個(gè) |
另：金粒子的大小<1nm-20nm的碳基金標(biāo)樣，又稱SEM超高分辨率檢測(cè)標(biāo)樣，推薦用于80000×及以上的儀器。
訂購(gòu)信息：
貨號(hào) | 產(chǎn)品名稱 | 規(guī)格 |
79512-01 | Ultra High Resolution Au-C Test on 12.5mm Pin Stub | 個(gè) |
79512-02 | Ultra High Resolution Au-C Test on JEOL Stub | 個(gè) |
79512-03 | Ultra High Resolution Au-C Test on ISI Stub | 個(gè) |
79512-04 | Ultra High Resolution Au-C Test on Hitachi Stub | 個(gè) |
79512-04 | Ultra High Resolution Au-C Test on Carbon Planchet | 個(gè) |
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