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檢測鋼材成分含量機器設備

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    我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。





能量色散X熒光光譜儀,ROHS ROHS2.0 REACH指令檢測儀|化合物分析|元素分析儀|土壤檢測儀|ROHS檢測儀|合金檢測儀|元素分析儀|礦石檢測儀|含鉛量檢測儀

應用領域 地礦,建材,冶金,汽車,綜合

我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、液相色譜儀(LC)、能譜儀(EDS)、頻紅外碳硫分析儀(CS Analyzer)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素檢驗等等??傊N售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測。

檢測鋼材成分含量機器設備

詳細信息

手持式儀器介紹:

可分析的常見合金
鐵合金系列:不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼、工具剛
鎳基合金系列:鎳合金、鎳/鈷超合金
鋁合金
鈦基合金系列
銅基系列:青銅、黃銅、銅鎳合金
鈷基合金系列
溫合金:
鉬鎢合金
混雜合金系列
儀器自帶384個標準合金pai號,用戶可自定義300多種合金等級pai號
分析模式及其所分析的元素范圍
元素分析范圍:從22號元素鈦到94號元素钚Pu,儀器標準配置元素如下。
Alloy PLUS模式:Mg、Al、Si、P、、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、W、Hf、Ta、Re、Pb、Bi、Zr、Nb、Mo、Ag、Sn、Sb等元素。
FastID快速識別模式:384種標準合金pai號等級及客戶自定義300多種合金pai號等級。
(可以根據客戶需要增加其他元素)

儀器的技術性能
• 的X射線管,無壓電源線,無RF噪音干擾。更好的X射線屏蔽。
•  整機使用鋁合金固定和保護,頂部加開槽式散熱裝置,根本性解決XRF儀器存在的散熱問題。
•  工業級觸摸顯示屏與主機一體化密封設計,堅固耐磨,不易劃傷。
•  顯示屏采用白光顯示技術,強烈陽光下也能清晰顯示,且能耗低。
•  基于windows CE 6.0的Innov-x分析軟件。
•  超大的圖標顯示,菜單式驅動,使用和操作更輕松、更簡單。
•  更快的分析速度,2秒即顯示分析結果,可現場查看光譜。
•  現場獲取校準曲線。
•  采用多光束技術,使輕質元素的分析效果達到佳。
•  集成的氣壓計。
•  內置加速器,即節能,又可延長儀器使用壽命。
•  超大內存2G存儲器
•  浮點運算、CPU532M,ARM1136-MX31處理器
•  儀器可存儲電能,更換電池時無須關機。


臺式儀器介紹:

X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。
性能特點
效超薄窗X光管,指標達到水平
新的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較的峰背比
低能X射線激發待測元素,對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解,使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(管壓、管流、真空度)一目了然
技術參數
產品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范
圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時間:30秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態:粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環境溫度:15℃-30℃
環境濕度:35%-70%

檢測鋼材成分含量機器設備

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