概述

從原料檢驗到終產(chǎn)品控制，Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)（PSS）為提高生產(chǎn)過程的經(jīng)濟(jì)效益開創(chuàng)了許多可能性。

過程分析的決定性優(yōu)勢是可實(shí)現(xiàn)對生產(chǎn)過程的全自動化實(shí)時控制。除了確保產(chǎn)品質(zhì)量的*性外，也可以對生產(chǎn)過程本身進(jìn)行監(jiān)控和優(yōu)化。過程分析可實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、低成本且便捷的解決方案，從而實(shí)現(xiàn)快速消費(fèi)回報。 該方法可應(yīng)用于不同的生產(chǎn)環(huán)節(jié)：進(jìn)貨檢驗、過程控制和100％的終端產(chǎn)品分類。許多相關(guān)參數(shù)可以從一次測量中獲得。例如，定性和定量化學(xué)分析，或者層厚度測量是典型的應(yīng)用。

Polytec 近紅外光譜儀系統(tǒng)（PSS）的設(shè)計使其可以實(shí)現(xiàn)靈活的配置，可為各種應(yīng)用提供有利的解決方案。 將合適的探頭、光譜儀和軟件進(jìn)行各種組合以滿足不同應(yīng)用的需求。系統(tǒng)使用標(biāo)準(zhǔn)化的組件，以確保在集成過程中的高精度和易用性。PSS系統(tǒng)基于成熟的技術(shù)，提供滿足特定應(yīng)用的解決方案，安全且易于集成。

實(shí)驗室和工業(yè)應(yīng)用根據(jù)所需的典型測量和輸出需求而有所不同。 為了在實(shí)驗室中進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，我們的軟件包提供了各方面的測量功能以實(shí)現(xiàn)快速高效的數(shù)據(jù)采集。對于工業(yè)在線應(yīng)用，我們提供可配置的解決方案，從細(xì)節(jié)的特定測量設(shè)置到與過程控制系統(tǒng)進(jìn)行通信。 我們的軟件產(chǎn)品組合還包括由成熟的多元數(shù)據(jù)分析供應(yīng)商提供的一系列兼容軟件包

Polytec （PSS）與標(biāo)準(zhǔn)的化學(xué)計量學(xué)軟件包*兼容，便于進(jìn)行光譜測量的多元數(shù)據(jù)分析。 這些軟件包可以成功用于化學(xué)計量學(xué)方法的計算、開發(fā)以及過程分析中的在線預(yù)測。目前 ， 我們提供來自以下合作伙伴的各種化學(xué)計量學(xué)軟件：

1) Camo (The Unscrambler® X)

2) SensoLogic (Calibration Wizard)

3) Umetrics (Simca)

技術(shù)規(guī)格

1) 集成 20W 鎢鹵素光源用于樣品照射

2) SMA 905 光纖連接

3) 工業(yè)防護(hù)等級 IP64

4) 帶藍(lán)寶石窗的不銹鋼外殼（僅接觸式探頭）

5) 配置可滿足食品行業(yè)通行法規(guī)或防爆認(rèn)證（僅接觸式探頭）

6) 適用的測量距離從 150 毫米到 600 毫米不等（非接觸式探頭）

7) 通過光源和傳感器單元的組合，適用的測量距離從0 到 50毫米不等（接觸式探頭）

技術(shù)特點(diǎn)

1) 近紅外光譜儀是過程分析中重要和廣泛使用的方法之一。無損，無創(chuàng)，無需樣品制備，不產(chǎn)生浪費(fèi)

2) 采用二極管陣列技術(shù)，即使在高測量速率下也能提供穩(wěn)定可靠的測量結(jié)果

3) 創(chuàng)新的透射光柵的設(shè)計，能夠?qū)崿F(xiàn)大的靈敏度和極低的散射光（ 對比度 > 1：50,000 ），同時保證長期穩(wěn)定性

4) 全自動的系統(tǒng)校準(zhǔn)，可調(diào)整的測量光斑大小

5) 標(biāo)準(zhǔn)化的光譜范圍，極低的散射光水平，*的測量速率，接近理論極限的均勻的光學(xué)分辨率

6) 接觸式和非接觸式探頭專為工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計，可滿足苛刻的現(xiàn)場要求，無懼灰塵、濕氣、壓力和溫度等種種因素的影響，符合通用的生產(chǎn)和安全規(guī)定，例如可以用于食品工業(yè)或防爆區(qū)

7) 可通過多探頭光學(xué)切換模塊實(shí)現(xiàn)一臺設(shè)備配套多個探頭的應(yīng)用，實(shí)現(xiàn)多條生產(chǎn)線互不干擾的實(shí)時過程監(jiān)控和控制

8) 提供標(biāo)準(zhǔn)模塊化的設(shè)備和軟件，高度的靈活性，易于集成，簡化操作

客戶價值

1) 從原材料的實(shí)時檢測到終產(chǎn)品的質(zhì)量控制的生產(chǎn)全過程，通過減少廢品率來提高效率和降低成本

2) 對整個生產(chǎn)過程的自動實(shí)時控制，確保產(chǎn)品的質(zhì)量穩(wěn)定性，對生產(chǎn)工藝過程實(shí)現(xiàn)全程監(jiān)測并進(jìn)行優(yōu)化

3) 一臺儀器可以測量多個參數(shù)，降低客戶設(shè)備投資成本

4) 無需樣品制備過程，加快檢測通量

5) 對待測樣品絲毫不產(chǎn)生破壞，非侵入性測量，也不存在樣品消耗

6) 為每位客戶制定詳細(xì)的年度維護(hù)及預(yù)防性維修方案，保證設(shè)備長期連續(xù)可靠運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)極低的使用和維護(hù)成本

7) 便捷的操作和維護(hù)

應(yīng)用

1) 固體（如散裝貨物 ，粉末 ，紙張或紡織品）

2) 流體（例如液體 ，懸浮液 ，擴(kuò)散和粘性介質(zhì)）

3) 氣體（如氣溶膠或煙霧）

4) 非接觸式探頭用于遠(yuǎn)距離測量的反射探頭（ 傳送帶、網(wǎng)狀應(yīng)用等等 ）

5) 接觸式探頭用于近距離或與樣品直接接觸（ 管道，滑槽，漏斗等 ）測量

6) 青貯玉米檢測

7) 飼料檢測

8) 食品

9) 制藥

10) 工業(yè)在線質(zhì)控

11) 產(chǎn)品篩選（例如按照顆粒大小分類，或按照成分不同進(jìn)行分類）

12) 膜層厚度測量

可選配置

型號：PSS 1720

光譜范圍：850 – 1650 nm

檢測器：InGaAs

像素：256

分辨率：<6.4 nm或<9.5 nm

型號：PSS 1750

光譜范圍：850 – 1650 nm

檢測器：InGaAs

像素：512

分辨率：<3.2 nm或<4.8 nm

型號：PSS 2120

光譜范圍：1100 – 2100 nm

檢測器：InGaAs

像素：256

分辨率：<7.9 nm或<11.9 nm

型號：PSS 2220

光譜范圍：1200 – 2200 nm

檢測器：InGaAs

像素：256

分辨率：256<7.9 nm或<11.9 nm

配套附件

1) 多探頭光學(xué)切換模塊

2) 直線型單光纖光纜

3) 探頭電源和控制電纜

4) 探頭支架

5) 旋轉(zhuǎn)臺

技術(shù)原理

與常用的化學(xué)分析方法不同，近紅外光譜分析法是一種間接分析技術(shù)，是用統(tǒng)計的方法在樣品待測屬性值與近紅外光譜數(shù)據(jù)之間建立一個關(guān)聯(lián)模型（或稱校正模型，Calibration Model）。近紅外光譜法是利用含有氫基團(tuán)（X-H，X為：C，O，N，S 等）化學(xué)鍵(X-H)伸縮振動倍頻和合頻，在近紅外區(qū)的吸收光譜，通過選擇適當(dāng)?shù)幕瘜W(xué)計量學(xué)多元校正方法，把校正樣品的近紅外吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)，建立校正樣品吸收光譜與其成分濃度或性質(zhì)之間的關(guān)系（校正模型）。在進(jìn)行未知樣品預(yù)測時，應(yīng)用已建好的校正模型和未知樣品的吸收光譜，就可定量預(yù)測其成分濃度或性質(zhì)。

制造商簡介

Polytec GmbH：進(jìn)步者，創(chuàng)新者。

Polytec在擁有400多名員工，為研究和行業(yè)開發(fā)，生產(chǎn)和銷售光學(xué)測量技術(shù)解決方案。優(yōu)質(zhì)的創(chuàng)新產(chǎn)品在專業(yè)領(lǐng)域享有盛譽(yù)，并根據(jù)客戶的日常需求量身定制專屬的解決方案。

今天，Polytec專注于科技領(lǐng)域：

1) 震動測量

2) 測速

3) 3D表面測量

4) 過程分析

5) 圖像處理

6) 其他光學(xué)系統(tǒng)

Polytec的技術(shù)應(yīng)用于眾多專業(yè)領(lǐng)域，包括：航空航天，醫(yī)療，納米技術(shù)，機(jī)械工程領(lǐng)域等。Polytec的測量技術(shù)在這些領(lǐng)域都能幫助企業(yè)樹立并鞏固其技術(shù)地位。用戶在測量敏感的生產(chǎn)流程，產(chǎn)品質(zhì)量時都會依賴于Polytec的測量技術(shù)。