分析儀型號：ZDK-AV5271

ZDK-AV5271型ATM分析儀為便攜式模塊化結構，具有雙路E1、E3、STM-1電或STM-1光等物理接口，可行ATM業務仿真、網絡損傷仿真、GCRA業務整形與測試、O.191 QoS測試、信元過濾與捕獲、UNI/NNI協議解碼以及面的物理層誤碼和告警測試。可應用于ATM設備的研制以及ATM網絡的建設、開通和維護。

主要點
　o 雙端口，模塊化結構
　o 面的物理層誤碼和告警插入/測試
　o 多種業務分布模型以及優控制、GCRA整形
　o 每端口可同時測試 2046個通道
　o 4種網絡損傷仿真
　o 測試能面：包括發生器統計、GCRA測試、O.191 QoS測試、信元統計、信元捕獲與協議解碼等

主要能與標
　（1） 雙 E1、E3、STM-1電或STM-1光收/發接口，符合ITU-T G.703標準
　（2） 碼型： AMI、HDB3、CMI、NRZ（光口）
　（3） 支持的幀結構： G.704 E1 幀（PCM30、PCM30+CRC、PCM31、PCM31+CRC）、E1 PLCP 幀、G.751 E3 幀、G.832 E3 幀、E3 PLCP 幀、G.708 STM-1 幀
　（4） 誤碼產生和測試：編碼誤碼、幀誤碼、PLCP 幀誤碼、PLCP BIP 誤碼、PLCP FEBE 誤碼、B1、B2、B3、MS-REI、HP-REI、HP-IEC
　（5） 告警插入和測試： LOS、LOF、AIS、RAI、PLCP YELLOW、PLCP LOF、PLCP OOF、MS-AIS、MS-RDI、AU-LOP、AU-AIS、HP-RDI
　（6） 具有 STM-1 針產生和測試能
　（7） 可產生適配層為 AAL1、AAL2、AAL3/4、AAL5及RM、OAM 和O.191等信元
　（8） 具有多種業務分布模型和優控制
　（9） 按照 GCRA 算法對業務行單/雙漏桶整形和測試分析
　（10） 能自動識別zui多 2046 個測試通道
　（11） 子業務 QoS 測量，每個通道可同時分析zui多達 2046 個子業務，包括實時業務統計、信元丟失計數、信元丟失率、信元誤插計數、信元誤插率、錯誤信元計數、錯誤信元率、信元計數、信元傳遞延遲和信元延遲變化等
　（12） 多種信元過濾和捕獲能，可按 線路速率捕獲多達1百個信元
　（13） 信元統計、AAL5包統計
　（14） 網絡損傷仿真能，能行 信元錯誤、信元丟失、信元延遲和信元延遲變化的損傷插入
　（15） 可行ATM層及UNI、NNI等協議解碼 , 解碼符合ATM Forum UNI3.0、UNI3.1、UNI4.0 ，ITU-T Q.2931、Q.2110、Q.2130、Q.2140、Q.2764等標準

2.

產品名稱：差壓示器 產品型號：SWP-CY100