高靈敏度?高選擇性

GC/MS可以通過保留時間和質譜圖進行化合物確認。經常被用于痕量物質的分析。然而在復雜基質中這項工作變得非常困難。GC/MS/MS提供的多反應監測模式（MRM）對離子進行兩步電離。選擇性明顯優于GCMS。在復雜基質樣品中，即使目標化合物不能通過Scan或SIM模式獲得結果，使用MRM模式可以清晰地被檢測出來。例如，分析食品中的殘留農藥。

基于單GC-MS方式的高靈敏度分析

     GCMS-TQ8030采用高靈敏度離子源以及OD透鏡，可以高效、選擇性地檢測生成的離子。不僅是基于GC/MS/MS的MRM測定，而且，在GC/MS的SCAN以及SIM測定中也實現了高靈敏度。

快速性能

UFsweeper高效去除碰撞室中的產物離子

     UFsweeper為島津*技術，將碰撞室的所需長度減至zui小限度，實現CID高效率和離子的快速傳輸。通過形成如下圖顯示的模擬電位，進入碰撞室內的離子被連續快速去除，即使在快速測定中也可以有效抑制信號強度下降以及串擾問題的發生。

基于ASSP™技術的快速掃描分析

     作為提高實驗室效率、實現更高度的數據解析的方法，人們期待著利用Fast-GC/MS法提高分析效率、以Scan與SIM或Scan/MRM同時測定進行準確的化合物定性/定量解析，這就要求質譜儀具有超越以往的快速性能。

     GCMS-TQ8030的內部硬件設計配備了在全掃描過程中優化離子傳輸速度的設計。這種技術稱之為高速掃描控制技術 (ASSP™)，是在高達20,000u/秒高速采集時獲得高質量質譜圖的關鍵。

對應快速MRM測定

     Fast-GC/MS的峰洗脫時間非常短，峰尖銳，需要進行快速MRM測定。20,000u/秒的高速掃描能力和Ufsweeper技術使得快速MRM成為可能

輕松自如的操作性與設計

AART功能自動校正MRM保留時間
Easy sTop功能減少維護時的停機時間
兼備設計性與功能性的裝置設計