頂配Maxxi6膜厚儀鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術，該技術已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析，頂配Maxxi6膜厚儀可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的¹³Al到⁹²U。

頂配Maxxi6膜厚儀優化的微聚焦硬件和直觀的用戶界面，簡化了常規分析，提高了產出，使用“一鍵式”操作可確保zui簡單的培訓就能同專業技術人員得到一樣的結果。高級用戶能容易地理解X熒光光譜，獲得定制的校準和探索未知的材料。

頂配Maxxi6膜厚儀參數功能介紹表： 

元素范圍 ¹³Al to ⁹²U，電源 110 V / 230 V 60 Hz / 50 Hz，分析層數&元素數量，自定義（在元素范圍內），自定義鍍層結構,含合金鍍層

X射線激發

 50 kV, 1.2 mA (60 W) 高壓發生器

Be窗微聚焦W陽極靶射線管(Mo陽極靶射線管可選)

 探測器5 mm² SDD探測器Peltier電制冷，能量分辨率140 eV  (FWHM for MnKα )

 一次綠光片(選配件)，多至5位自動切換一次濾光片

準直器單準直器: 0.1 x 0.4 mm, 0.1 x 0.7 mm, 0.1 mm, 0. 3 mm, 0.5 mm,