產(chǎn)品名稱：網(wǎng)絡(luò)分析儀
品 牌：PROTEK （興倉）
產(chǎn)品型號： A333
儀器產(chǎn)地:   韓國
技術(shù)指標(biāo)：300KHz-3.2GHz

頻率范圍300kHz到3.2GHz 頻率分辨率1mHzIF帶寬設(shè)置1Hz到30kHz
功率范圍-45dBm到+10dBm功率精度±1.0dB顯示10.4英寸 TFT彩色液晶(800x600)觸摸屏
用戶界面USB2.0, 以太網(wǎng), 鍵盤, 鼠標(biāo), 打印機(jī), 視頻
測量性能
測量參數(shù)：S11,S21,S12,S22                                  
測量通道數(shù)量：zui大到16個獨(dú)立的邏輯通道, 一個邏輯通道被定義為某一激勵信號設(shè)置, 如頻率范圍, 測試點(diǎn)數(shù),功率等每個邏輯通道在屏幕上作為獨(dú)立的通道窗口顯示           
數(shù)據(jù)跟蹤：zui大到16個數(shù)據(jù)跡線顯示在各自的通道窗口上, 一個數(shù)據(jù)跡線顯示被測器件的某一參數(shù),如S參數(shù),時域響應(yīng),輸
入功率響應(yīng)                                    
存儲跟蹤：16個數(shù)據(jù)跡線的每一個都能將當(dāng)前值保存到存儲器用于比較.                                       
數(shù)據(jù)顯示格式：對數(shù)幅值,線性幅值,相位,延長相位,群延遲, 駐波比實(shí)部,虛部,史密斯圓圖,極坐標(biāo)                      
數(shù)據(jù)標(biāo)記：每個跡線zui大到16個標(biāo)記.對增量標(biāo)記操作可應(yīng)用參考標(biāo)記, 史密斯圓圖支持5種標(biāo)記格式: 線形幅值/相位,對數(shù)幅值/相位,實(shí)部/虛部,R + jX 和 G + jB。極坐標(biāo)支持3種標(biāo)記格式:線形幅值/相位,對數(shù)幅值/相位, 實(shí)部/虛部         
標(biāo)記功能
標(biāo)記搜索:搜索zui大值,zui小值,峰值,左峰值,右峰值,目標(biāo)值,目標(biāo)左值,目標(biāo)右值,帶寬參數(shù)                                        
標(biāo)記搜索附加特性:搜索范圍設(shè)置: 特定值跟蹤或單一操作搜索功能           
通過標(biāo)記設(shè)置參數(shù):通過標(biāo)記的激勵值設(shè)置開始、停止、中心頻率, 通過標(biāo)記的響應(yīng)值設(shè)置參考電平
掃描特性
掃描測量點(diǎn)數(shù):用戶自行設(shè)置 2 到 10001
掃描類型:當(dāng)激勵功率為固定值時：線性掃描, 對數(shù)掃描; 分段掃描當(dāng)頻率為固定值時：線性功率掃描
分段掃描特性:在幾個獨(dú)立的用戶定義的分段內(nèi)頻率掃描。應(yīng)為每個分段設(shè)置頻率范圍, 掃描點(diǎn)數(shù), ,源功率和IF帶寬
功率:源功率 -45到+10dBm 精度0.05dB,在頻率掃描模式中功率斜率可設(shè)置到zui高2dB/GHz去補(bǔ)償連接線中高頻衰減   
掃描觸發(fā):觸發(fā)模式：連續(xù), 單次, 保持 觸發(fā)源：內(nèi)部, 手動, 外部  
跡線功能
跡線顯示:數(shù)據(jù)跡線, 存儲器跡線或數(shù)據(jù)和存儲器跡線同時顯示        
跡線數(shù)學(xué):通過數(shù)學(xué)運(yùn)算更改數(shù)據(jù)跡線：對被測復(fù)雜值和存儲器數(shù)據(jù)進(jìn)行加, 減, 乘, 除                                      
自動刻度:自動選擇刻度和基準(zhǔn)值具有zui有效的顯示跡線             
電延遲:在低損耗測試設(shè)置中,將校準(zhǔn)面移動,對延遲補(bǔ)償。被測器件線性相位的偏離測量時的電延遲補(bǔ)償。           
相位偏移:相位偏移度數(shù)                                     
統(tǒng)計:計算和顯示數(shù)據(jù)跡線的平均值, 標(biāo)準(zhǔn)偏差, 峰-峰偏差      
其他特性
熟悉圖形用戶界面:基于Windows 操作系統(tǒng)的圖形用戶界面,保證了用戶快捷和容易的儀器使用                                        
分析儀控制:使用個人電腦                                         
圖表打印/儲存:預(yù)覽, 存儲和打印可通過MS Work, Windows 圖象瀏覽器或分析儀打印向?qū)硗瓿?  
編程功能:COM/DCOM 自動控制
測量范圍
阻抗: 50Ω(75Ω)
測試端口連接器: N-type, female
測試端口數(shù)量: 2
頻率范圍: 300kHz to 3.2GHz
全部連續(xù)波形頻率精度: ±5×10
頻率分辨率: 1mHz
測量點(diǎn)數(shù): 2 to10001
IF帶寬: 1 Hz to 30 kHz
(以1/1.5/2/3/5/7步進(jìn))
動態(tài)范圍 (IF帶寬 10Hz): 130 dB ,typ.135dB
測量速度
每個點(diǎn)測量時間: 125μs
源到接收端口轉(zhuǎn)換時間: 10ms
相對測量點(diǎn)數(shù)的典型掃描時間
測量點(diǎn)數(shù): 51   201   401   1601
開始 300kHz, 停止 10MHz, IF帶寬 30kHz
     未校正: 13ms  52ms  104ms  413ms
     全二端口校準(zhǔn): 46ms  123ms  226ms  844ms
開始 10MHz, 停止 3.2GHz, IF帶寬 30kHz
     未校正: 7ms  27ms   53ms  207ms
     全二端口校準(zhǔn): 34ms  73ms  125ms  434ms
測量精度
傳輸測量精度（幅值/相位）
    +15 dB to +5dB: 0.2dB/2°
    +5 dB to -50dB: 0.1dB/1°
    -50 dB to -70dB: 0.2dB/2°
    +70 dB to -90dB: 1.0dB/6°
反測量精度（幅值/相位）
     0dB to -15dB: 0.4dB/4°
   -15 dB to -25dB: 0.1dB/1°
   -25 dB to -35dB: 4.0dB/22°
跡線穩(wěn)定性
跡線噪聲幅值(IF帶寬3kHz): 1mdB rms
溫度依存(每一度的溫度變化): 0.02dB 
一般特性
工作溫度范圍: +5℃ to +40℃
存儲溫度范圍: -45℃ to +55℃
濕度: 90% at 25℃
大氣壓力: 84 to 106.7kPa
電源: 100 to 240 VAC / 47 to 63Hz
功率消耗: 30W
認(rèn)證: CE
尺寸: 426×22×270mm
重量: 10.6kg
 
測試端口輸出
匹配
(無系統(tǒng)誤差校正下): 15 dB
功率范圍: -45dBm to +10dBm
功率精度: ±1.0dB
功率分辨率: 0.05 dB
諧波失真:-30dBc
測試端口輸入
匹配
(無系統(tǒng)誤差校正下) : 25 dB
zui大安全輸入電平: +26dBm
zui大安全輸入直流電壓: 35V
噪聲電平: -120dBm
(定義為本底噪聲的有效值.  IF帶寬 10Hz)
精度提高
校準(zhǔn):測試設(shè)置的校準(zhǔn)（包括儀器, 連接線, 轉(zhuǎn)換器）顯著地增加測量的精度。校準(zhǔn)允許對測量系統(tǒng)的不完整性引起的誤差進(jìn)行校正：系統(tǒng)的定向、輸出源和負(fù)載匹配, 跟蹤和隔離
校準(zhǔn)方法:可以采用多種混合校準(zhǔn)方法來提高精度水平。其中zui精確的是全一端口校準(zhǔn), 和全二端口校準(zhǔn)
反射和傳輸標(biāo)準(zhǔn)化:對反射和傳輸測量的頻響誤差的幅度和相位校正
全一端口校準(zhǔn):頻響的幅度和相位校正, 對一端口反射測量定向和輸出源匹配誤差校正
單路二端口校準(zhǔn):進(jìn)行反射和單路傳輸測量, 類似于一端口反射測量,頻響的幅度和相位校正, 對反射測量的輸出源匹配誤差校正
全二端口校準(zhǔn):進(jìn)行被測器件的全部的S參數(shù)矩陣測量,對反射和傳輸測量的頻響的幅度和相位校正定向和輸出源匹配和負(fù)載匹配和隔離。隔離校準(zhǔn)可省略
定向校準(zhǔn)(可選):定向校正附加到反射校正                                                                                                  
隔離校準(zhǔn)(可選):隔離校正附加到傳輸校正。全二端口校準(zhǔn)中的單路二端口校準(zhǔn)
糾錯插補(bǔ):當(dāng)使用者改變設(shè)置, 如開始/停止頻率和掃描點(diǎn)數(shù), 與校準(zhǔn)時的設(shè)置進(jìn)行比較, 插補(bǔ)或校準(zhǔn)推定被實(shí)行
端口阻抗轉(zhuǎn)換:在50Ω端口測量的S參數(shù)能轉(zhuǎn)換為在任意阻抗的測試端口被測定的值。
去嵌入:此功能允許將連接校準(zhǔn)面和被測器件的夾具回路的作用從測量結(jié)果中算術(shù)地除去。此回路通過標(biāo)準(zhǔn)文件里的S參數(shù)距陣來描述  
嵌入:此功能允許將校準(zhǔn)面和被測器件的夾具回路虛擬集成后, 算術(shù)地模擬被測器件參數(shù)。此回路通過標(biāo)準(zhǔn)文件里的S參數(shù)距陣來描述。
S參數(shù)轉(zhuǎn)換:此功能允許測量的S參數(shù)轉(zhuǎn)換為如下參數(shù)：反射阻抗, 導(dǎo)納, 傳輸阻抗和導(dǎo)納, S參數(shù)的倒轉(zhuǎn)                                
時域變換：使用Chip Z 轉(zhuǎn)換將測量數(shù)據(jù)從頻域轉(zhuǎn)換為時域轉(zhuǎn)換類型：帶通, 低通沖擊, 低通步進(jìn), 可進(jìn)行窗口轉(zhuǎn)換：zui小, 正常, zui大
選通：選通濾波器類型：帶通和陷波選通窗口：寬屏, 正常, zui小