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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>光學儀器及設備>光學測量儀>其它光學測量儀>USPMⅢ 奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ

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USPMⅢ 奧林巴斯 鏡片反射率測定儀 USPMⅢ

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反射率測定儀奧林巴斯

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Evident企業(yè)簡介

源自百年光學儀器奧林巴斯豐富的科研根基，以高新科技不斷突破創(chuàng)新，這就是Evident，一家年輕又富于經(jīng)驗的光學科技企業(yè)。

作為國際化精密儀器、光學技術(shù)制造商，Evident的產(chǎn)品廣泛運用于包括生命科學、材料科學、航空航天、汽車、電子、電力、石化、基礎建設、地質(zhì)環(huán)境等多種研究領(lǐng)域。與此同時，作為專業(yè)的光學儀器和解決方案供應商，Evident憑借鉆研進取的創(chuàng)新，超越期待的服務，為廣大客戶提供解決方案，將繼續(xù)致力于實現(xiàn)世界人民的健康、安心和幸福生活的企業(yè)使命，不斷為社會做出貢獻。

我們向您承諾，我們的產(chǎn)品，服務和技術(shù)支持的水平將會一如既往地達到您的期望。在可預見的未來，Evident銷售的產(chǎn)品將繼續(xù)冠有奧林巴斯名稱。

 

 

 

 

奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡，工業(yè)顯微鏡，無損檢測產(chǎn)品，XRF和XRD分析儀

產(chǎn)地類別 進口

USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀

 

USPM-RU III反射儀可精確測量當前分光儀無法測量的微小、超薄樣本的光譜反射率，不會與樣本背

面的反射光產(chǎn)生干涉。是適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)。

消除背面反射光
采用特殊光學系統(tǒng)，消除背面反射光。                     
不必進行背面的防反射處理，可正確測定表面的反射率。

  • 可測定微小區(qū)域的反射率
    用物鏡對焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。

  • 測定時間短
    由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測光機構(gòu)，可以進行快速、再現(xiàn)性很高的測定。

  • 支持XY色度圖、L*a*b*測定
    可以依據(jù)分光測色法，通過分光反射率測定物體顏色。

  • 可以測定高強度鍍膜的膜厚
    采用干涉光分光法，可以在不接觸、無損的情況下測定被檢物的膜厚（單層膜）。

 

-END-

 



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