EDX 3200S PLUS 屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發的產品，設備采用了能量色散X射線熒光光譜技術實現土壤中微量金屬有害元素的快速檢測，設備采用了*的探測器和激發源等硬件配置。 
本產品除了測量土壤和水系沉積物外，還可以用于稻米、小麥、谷物、煙草等作物中的重元素鎘（Cd）、鉛（Pb）、砷（As）和硒（Se）的快速無損檢測。

性能參數

產品型號：EDX 3200S PLUS
產品名稱：X熒光光譜儀 
測量元素范圍：從鈉（S）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 
同時分析元素：一次性可測幾十種元素 
測量時間：60秒-300秒 
探測器能量分辨率為：zui低可達125eV
管壓：5KV-70KV 
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃ 
環境濕度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm 

性能特點 
高效超薄窗X光管，指標達到*水平 
的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000cps，精度更高。
FastSDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背
自動穩譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元 
針對不同元素自動切換濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣 
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
儀器具備輻射安全許可證，且對設備進行三重X射線屏蔽設計，保證了環境下*泄漏，讓測試人員安全放心的使用
硬件聯動裝置，權限安全鎖，保證軟件失效的情況下還能對設備進行控制，保證設備在使用中的安全無放射

標準配置 
高效超薄窗X光管 
Fast SDD硅漂移探測器 
數字多道技術
光路增強系統 
高信噪比電子線路單元 
自動切換濾光片 
自動穩譜裝置 
三重安全保護模式 
相互獨立的基體效應校正模型 
多變量非線性回歸程序 

應用案例

圖3 土壤樣品的熒光譜圖

土壤樣品的測試結果：

注：氧化物的單位為 %，元素的單位為mg/kg。

附件：儀器的安裝和運營環境

一、實驗室總體設計：

按照樣品測試、樣品前處理的特點設立各個分室，應建立樣品測試室與樣品前處理室。科學地布置和安放儀器設備，布置電力線路，合理的采光、自然通風和照明。 
布置示意圖：樣品測試室如下，具體要求見下方儀器安裝儀器條件。

二、工作環境要求 
2.1 環境溫度：10℃-35℃ 
2.2 相對濕度：小于70%
2.3 電源：AC 220V（如電網波動 ≥ 10%，則需配交流穩壓器(1kw以上）。 
2.4 房間：無腐蝕性氣體，無機械振動，無電磁場干擾。

附件:
國家土壤、水系沉積物環境新標準要求（HJ780-2015）

表2 測定元素分析方法檢出限和測定下限

注: 元素質量分數單位為mg/kg；氧化物單位為%。標記紅色的21種元素和氧化物，其EDX儀器方法檢出限和定量限*HJ780-2015環境標準檢測要求。