zui高分辨率的納米級化學和性質成像
Bruker’s Inspire系統在常規AFM成像速度下可獲得納米級的紅外吸收和反射圖像，不受間接手工操作的逼近的限制，或為用戶增加使用的繁瑣。該系統實時地將原子級的納米力學成像與分辨率達10納米的紅外sSNOM 時空光譜成像以及*的納米電學測量相關聯。

簡而言之，Inspire重新定義了原子力顯微鏡的應用。

Inspire 的出現，*次將zui高分辨率納米尺度下的化學和性質成像與*的AFM技術和的AFM性能結合:

• 采用直接光學逼近方法獲得zui高分辨率的納米化學性質表征和等離子基元效應

• 布魯克公司*的PeakForce Tapping技術可提供zui為精準的定量納米機械性質的成像

• 全新的PeakForce IR技術可以實現以往技術難以實現的納米化學性質的成像

• 利用ScanAsyst自動優化圖像和集成的sSNOM光學系統可快速的獲得數據

的成像技術——操作簡單
Inspire 使用sSNOM直接光學的反射和吸收成像以獲得zui高的空間分辨率和靈敏度的納米化學信息。以往需多年的專業技術和數周的搭建時間獲得的實驗數據，Inspire的集成光學系統可以更快更簡單的實現。PeakForce Tapping（峰值力輕敲）技術及智能成像模式保證了即使是初學者也可以在幾分鐘之內獲得專家級的AFM成像質量。
PeakForce Tapping技術的強力支撐
布魯克公司*的PeakForce Tapping技術采用精確地控制每個像素下的力曲線，能夠降低成像時的作用力，這樣可以保護探針，同時zui高分辨率的形貌圖和納米尺度性質的AFM圖像。Inspire利用了布魯克*的PeakForce Tapping技術為紅外散射近場光學顯微鏡（sSNOM），提供了全新的方法，擴展了它在大量樣品的納米尺度的化學成像。PeakForce IR技術是一種通過交錯sSNOM信號采集和PeakForce Tapping的反饋，在同一
時間獲得全部的組合信息的全新技術。
新材料的化學成像
PeakForce IR技術超越了傳統的AFM，sSONM，或光熱方法下實現的納米級成像的范圍。Inspire 還可以鑒定材料類型，以及檢測靈敏度達單分子層級的膜厚變化。
紅外納米表征技術可以擴展至：

• 粉末和高分子刷等接觸模式和輕敲模式都很難成功測量的樣品

• 橡膠體的成分，金屬材料，半導體材料，陶瓷和其他在光熱方法下不能測量的材料

• 石墨烯等離子體，電子結構和化學修飾的樣品

為新的發現直接提供相關聯的信息
擁有PeakForce IR技術的Inspire通過具有所有優勢的散射sSNOM技術提供的掃描探針的紅外反射和吸收成像，使獲得化學、材料和等離子基元的zui高空間分辨率的成像成為可能。該技術還可以與PeakForce QNM聯用實時的進行定量納米機械模量和粘附力的成像。與PeakForce IR的聯用，PeakForce KPFM 實現了在10nm分辨率水平下的毫伏級的定量的功函數成像，PeakForce TUNA實現了即使在柔軟和易碎樣品上無法在接觸模式下獲得的導電圖像。
生產力的新標準
PeakForce IR利用布魯克*的智能成像模式技術，通過自動成像優化，能夠更簡單、更快速獲得*的AFM圖像。結合帶有由光學場圖引導的point-and-click光學校準的快速光路設置集成光學系統，使得實驗準備時間減少到幾分鐘。高性能的AFM掃描器確保可以在掃描速率達10Hz時也獲得高分辨率的紅外成像。對于任何對散射sSNOM技術、納米級石墨烯研究感興趣的科學家，或者需要得到高分辨化學性質成像的研究者來說，擁有PeakForce IR技術的Inspire是您的選擇。
技術參數

光路系統
  集成紅外散射SNOM系統:
  包含必需的光學器件, 激光和檢測器;
  高質量的寬頻光學元件;
  低噪音, 液氮冷卻的探測器;
  精確的干涉儀控制系統;
  低噪聲量子級聯激光器光源;
  優化的近場采集和激發光路

AFM掃描頭
  可支持應用模塊的AFM掃描頭(可支持所有選擇模式)

掃描器
  125μm x 125μm (X-Y) x 5μm( Z range);  可以根據需求選擇其他掃描器

控制器
  NanoScopeV 控制臺, 配v9.0 Nanoscope實時控制軟件;
  NanoScope v1.5 分析軟件;
  Windows 7 操作系統

模式
掃描探針紅外模式:
  IR sSNOM 在 TappingMode and PeakForce IR模式下運行
常規成像模式:
  智能成像模式
  峰值力輕敲模式
  輕敲模式
  接觸模式
  扭轉共振模式
  掃描隧道顯微鏡
  摩擦力顯微鏡
  相位成像
可選擇的材料表征模式:
  PeakForce KPFM——納米級熱分析
  導電原子力顯微鏡——液態成像
  PeakForce TUNA——電化學原子力顯微鏡
  PeakForce QNM——納米壓痕
  PeakForce Capture——壓電力顯微鏡
  力曲線陣列 ——電場力和磁力顯微鏡