測頭類型

leeb242

測頭類型

F1或N1

工作原理

磁感應或電渦流

測量范圍

0~1250μm

低限分辨率

0.1μm

示值誤差

一點校準

±（3%H+1）

二點校準

±[（1~3%)H+1]

測試條件

zui小曲率半徑mm

凸1.5、凹9

zui小面積直徑mm

Φ7

基本臨界厚度mm

0.5

工作環境

溫度

0~40℃

濕度

20%~90%

電源

6V可充電鎳氫電池

外形尺寸

212×80×32mm（主機）

重量

400g

標準配置

主機、標準試片、基體、電源適配器、打印紙

選配

其他多種探頭、打印紙、

探頭

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

測量原理

磁性

渦流

測量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測量精度μm

一點校準

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±(3%H+1)

二點校準

±（1～3％H+0.7）

±[(1~3)%H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

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低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

zui小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

僅為平面

zui小面積直徑(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

無限制

覆蓋層基體

有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）

非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）

覆蓋層厚度不超過100μm

覆蓋層厚度超過100μm

覆蓋層厚度不超過100μm

覆蓋層厚度超過100μm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測面積直徑大于30mm

F400型測頭0～400μm
F1型測頭
0～1250μm

F1型測頭
0～1250μm
F10型測頭
0～10μm

F400型測頭0～400μm
F1型測頭
0～1250μm

F1型測頭
0～1250μm
F10型測頭
0～10μm

被測面積直徑小于30mm

F400型測頭0～400μm

F400型測頭0～400μm
F1型測頭
0～1250μm

F400型測頭0～400μm

F400型測頭0～400μm
F1型測頭
0～1250μm

如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

被測面積直徑大于10mm

N1型測頭0～1250μm
N400測頭0～400μm

僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm

被測面積直徑大于10mm

N400測頭0～400μm

N400測頭0～40μm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測面積直徑大于7mm

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CN02型測頭10～200μm