HG13- NanoFirst-2000 原子力顯微鏡
- 公司名稱 北京北信科遠儀器有限責任公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 HG13- NanoFirst-2000
- 產地 北京
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/5/28 21:06:23
- 訪問次數 2551
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,綜合 |
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原子力顯微鏡 懸臂反射原子力顯微鏡 探針
型號:HG13- NanoFirst-2000
產品介紹:
(Atomic force microscopy)是一種以物理學原理為基礎,通過掃描探針與樣品表面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般利用探針對樣品掃描,探針固定在對探針與樣品表面作用力極min感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發出的激光束經懸臂反射后發生位移。檢測器接受反射光,zui后接受信號經過計算機系統采集、處理、形成樣品表面形貌圖像。
產品特點:
計算機全數字化控制,操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖--樣品逼近,保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量,三維顯示。
na米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統計。
X、Y二維樣品移動平臺,快速搜索樣品區域.
標準RS232串行接口,無需ren何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配na米刻蝕功能模塊。
技術指標:
AFM探頭
樣品尺寸:直徑小等于30mm;厚度小等于15mm。
XYzui大掃描范圍:標準6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標)
XY二維樣品移動范圍:5mm;精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識別
44-283X連續變倍彩色CCD顯微觀察系統(選配)
AFM電化學針尖塊,液電池,液體輕敲式成像功能(選配)
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺(選購)
訂購說明
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