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Nanite原子力顯微鏡(大掃描范圍)

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億誠恒達科技有限公司,在北京和香港兩地注冊。北京公司位于北京海淀中關村核心區域,是一家專門代理營銷進口科學儀器、測試測量設備的高科技企業,所經營的產品涵蓋材料科學、化學分析、綠色能源、半導體及微電子科學等領域。公司本著“誠信、務實、品質、服務”的經營理念,已經為國內許多用戶提供了*的儀器設備,專業的技術咨詢和完善的售后服務。

公司主要代理產品有:*材料試驗機,疲勞試驗機,沖擊試驗機,電化學工作站,恒電位/恒電流儀,石英晶體微天平,三維形貌儀,輪廓儀,原子力顯微鏡(AFM),掃描探針顯微鏡(SPM),摩擦磨損試驗機,瓶蓋扭矩測量儀,軸承扭矩測量儀,高頻疲勞試驗機。

億誠恒達科技有限公司愿與客戶攜手,共創美好未來!

萬能材料試驗機,疲勞試驗機,沖擊試驗機,電化學工作站,恒電位/恒電流儀,石英晶體微天平,三維形貌儀,輪廓儀,原子力顯微鏡(AFM),掃描探針顯微鏡(SPM),摩擦磨損試驗機,瓶蓋扭矩測量儀,軸承扭矩測量儀,高頻疲勞試驗機

產地類別 進口 價格區間 面議
儀器種類 原子力顯微鏡 應用領域 化工,生物產業,石油,電子

Nanite原子力顯微鏡(大掃描范圍)測量模式: 接觸式原子力顯微鏡,真正非接觸式原子力顯微鏡,橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM),導電原子力顯微鏡,磁力顯微鏡(MFM),開爾文探針(Kelvin Probe),掃描熱原子力顯微鏡(SThM),電容和靜電力顯微鏡(EFM),高級的納米光刻和納米操作能力,音叉原子力顯微鏡,三維掃描成像。 

Nanite原子力顯微鏡(大掃描范圍)掃描器大測量范圍:110um X & Y range,22um Z range 
●  大尺寸樣品臺,全自動測量大直徑為160mm樣品。 
●  PZT/Voice Coil雙模式技術AFM 
●  全自動運動平臺,馬達驅動 
●  批處理軟件,自動圖像拼接縫合技術,可以測量超大樣品的三維形貌像 
●  *的32-bit DSP控制器,反饋技術(掃描范圍>10um時高掃描20 Hz,消除爬行現象) 
●  可以進行納米壓痕和劃痕實驗 
●  光學系統, XY閉環掃描技術 
●  *開放性軟硬件構架設計, 并開放所有源代碼供您的二次開發

配方加工制造技術專題-顯微鏡探針

 技術編號             技術名稱
(ZSJ32892-0022-0001) 原子力顯微鏡多探針針座
(ZSJ32892-0030-0002) 基于角度測量的原子力顯微鏡測量裝置
(ZSJ32892-0024-0003) 可長時間工作的開放式原子力顯微鏡液體池
(ZSJ32892-0039-0004) 原子力顯微鏡及其操作方法
(ZSJ32892-0061-0005) 雙元原子力顯微鏡檢測頭
(ZSJ32892-0069-0006) 原子力顆粒顯微鏡
(ZSJ32892-0073-0007) 液體中掃描探針顯微鏡探針靈敏度提升裝置
(ZSJ32892-0023-0008) 原子力顯微鏡可調多探針針座
(ZSJ32892-0034-0009) 基于AFM的數據存儲和顯微鏡
(ZSJ32892-0063-0010) 用于原子力顯微鏡的生長蛋白質晶體生長樣品池
(ZSJ32892-0070-0011) 原子力顯微鏡的光點跟蹤裝置
(ZSJ32892-0012-0012) 原子力顯微鏡及其驅動方法
(ZSJ32892-0072-0013) 原子力顯微鏡金相掃描樣品臺
(ZSJ32892-0007-0014) 原子力顯微鏡
(ZSJ32892-0014-0015) 與原子力顯微鏡配套的觀察裝置
(ZSJ32892-0035-0016) 一種應用于原子力顯微鏡研究的高聚物樣品的制備方法
(ZSJ32892-0043-0017) 用于原子力顯微鏡的同軸照明顯微鏡光學系統
(ZSJ32892-0031-0018) 利用單壁碳納米管測量原子力顯微鏡針尖半徑的方法
(ZSJ32892-0010-0019) 用于靜電力顯微鏡的帶懸臂梁靜電力檢測器
(ZSJ32892-0005-0020) 雙元原子力顯微鏡檢測頭
(ZSJ32892-0054-0021) 基于原子力顯微鏡的聲成像用弱信號檢測器
(ZSJ32892-0003-0022) 液相原子力顯微鏡探頭
(ZSJ32892-0008-0023) 原子力/光子掃描隧道顯微鏡圖象分解方法
(ZSJ32892-0057-0024) 基于原子力顯微鏡的納米結構中納米間隙的精密測量方法
(ZSJ32892-0058-0025) 微小型原子力顯微鏡的驅動裝置
(ZSJ32892-0041-0026) 相容的熱塑性硫化膠摻混物及其原子力顯微鏡測定的形態
(ZSJ32892-0021-0027) 原子力顯微鏡探針座
(ZSJ32892-0044-0028) 掃描探針顯微鏡微型鏡盒
(ZSJ32892-0056-0029) 一種無損的測定原子力顯微鏡探針形狀參數的方法
(ZSJ32892-0050-0030) 原子力顯微鏡針尖清洗方法及裝置
(ZSJ32892-0052-0031) 基于原子力顯微鏡恒力模式的納米微小結構加工方法
(ZSJ32892-0053-0032) 一種在原子力顯微鏡針尖上組裝氧化鋅納米線的工藝
(ZSJ32892-0064-0033) 原子力顯微鏡用液-液擴散法生長蛋白質晶體的樣品池
(ZSJ32892-0018-0034) 用于原子力顯微鏡觀察的石蠟切片脫蠟方法
(ZSJ32892-0038-0035) 原子力顯微鏡研究DNA所用樣品的制備方法
(ZSJ32892-0067-0036) 高精度原子力顯微鏡的鏡體
(ZSJ32892-0011-0037) 利用掃描探針顯微鏡針尖的方法及其產品或產品的制作方法
(ZSJ32892-0060-0038) 臥式原子力顯微鏡探頭
(ZSJ32892-0065-0039) 一種基于原子力顯微鏡的測量襯底上樣品高度的裝置
(ZSJ32892-0013-0040) 基于原子力顯微鏡觀察的超薄切片在云母表面的貼附方法
(ZSJ32892-0036-0041) 一種用于掃描探針顯微鏡的金薄膜基底制作方法
(ZSJ32892-0001-0042) 基于原子力顯微鏡技術的測量襯底上柔軟樣品高度的方法
(ZSJ32892-0009-0043) 利用掃描原子力顯微鏡的化學鑒別成象
(ZSJ32892-0059-0044) 應用于原子力顯微鏡的數據采集處理系統
(ZSJ32892-0042-0045) 基于原子力顯微鏡的重新定位方法
(ZSJ32892-0004-0046) 基于原子力顯微鏡的超薄切片厚度的測量方法
(ZSJ32892-0071-0047) 觀察裝置的同軸照明顯微鏡光學系統
(ZSJ32892-0016-0048) 微區穩態/瞬態光電檢測與掃描成像的近場光學顯微鏡系統
(ZSJ32892-0028-0049) 制作應用于原子力顯微鏡研究的具有定位功能的基底
(ZSJ32892-0068-0050) 掃描探針顯微鏡微型鏡盒
(ZSJ32892-0019-0051) 用于移動原子力顯微鏡探針的探針鉗
(ZSJ32892-0046-0052) 用原子力顯微鏡確定樣品的材料界面和計量信息的方法
(ZSJ32892-0015-0053) 基于壓電掃描管動態特性的原子力顯微鏡成像方法及裝置
(ZSJ32892-0002-0054) 利用掃描探針顯微鏡針尖的方法及其產品或產品的制作方法
(ZSJ32892-0047-0055) 一種原子力顯微鏡的掃描探頭
(ZSJ32892-0026-0056) 原子力顯微鏡的光點跟蹤裝置
(ZSJ32892-0033-0057) 掃描探針顯微鏡
(ZSJ32892-0048-0058) 一種利用原子力顯微鏡的套刻對準方法及裝置
(ZSJ32892-0020-0059) 配套于原子力顯微鏡的觀察儀
(ZSJ32892-0049-0060) 用于原子力顯微鏡的掃描樣品電加熱裝置
(ZSJ32892-0029-0061) 基于角度測量的原子力顯微鏡測量方法
(ZSJ32892-0025-0062) 基于原子力顯微鏡觀察的生物樣品包埋塊的制備方法
(ZSJ32892-0051-0063) 基于原子力顯微鏡恒高模式的納米微小結構加工方法
(ZSJ32892-0066-0064) 模塊化原子力顯微鏡
(ZSJ32892-0027-0065) 模塊化原子力顯微鏡
(ZSJ32892-0006-0066) 臥式原子力顯微鏡探頭
(ZSJ32892-0062-0067) 液相原子力顯微鏡探頭
(ZSJ32892-0045-0068) 原子力顯微鏡探針
(ZSJ32892-0017-0069) 用于原子力顯微鏡納米定位的超薄切片表面處理方法
(ZSJ32892-0032-0070) 原子力顯微鏡探針裝置及其制造方法
(ZSJ32892-0055-0071) 基于原子力顯微鏡力曲線的納米梁厚度的非破壞測量方法
(ZSJ32892-0037-0072) 對月球表面環境就位測量的原子力顯微鏡檢測方法及裝置
(ZSJ32892-0040-0073) 原子力顯微鏡誘導單分子DNA定位突變方法
 

 



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