美國(guó)Calmetrics 電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片
- 公司名稱 上海益朗儀器有限公司
- 品牌 Calmetrics/美國(guó)
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地 美國(guó)
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2015/7/21 13:21:33
- 訪問(wèn)次數(shù) 1182
電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片Calmetrics 電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片美國(guó)Calmetrics 電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片金屬電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)口電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片
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涂鍍層測(cè)厚儀,涂鍍層標(biāo)準(zhǔn)片,水質(zhì)簡(jiǎn)易測(cè)定器,輻射測(cè)量表,哈氏槽實(shí)驗(yàn)設(shè)備,鍍層內(nèi)應(yīng)力測(cè)試儀,離子污染測(cè)試儀,硫酸根快速測(cè)定儀,水質(zhì)分析儀
美國(guó)Calmetrics 電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片
美國(guó)Calmetrics 電鍍膜厚標(biāo)準(zhǔn)片每片厚度均通過(guò)美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院(National Institute of Standards and Technology,NIST)鑒定機(jī)構(gòu)認(rèn)證(有證書),其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。
又名膜厚儀校準(zhǔn)片,專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀(膜厚儀)在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)試檔案。也就是我們?cè)谀ず駵y(cè)試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法,是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,來(lái)得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來(lái)測(cè)量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來(lái)檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
薄片類型:(以下為常規(guī)厚度,上海益朗儀器有限公司http://www.shylyq。。com接受非標(biāo)定做)
量測(cè)成份: | 厚度值(單位:μm) |
ALUMINUM (Al) | 1.00、3.00、5.00、12.5 |
CADMIUM (Cd) | 1.00、2.00、5.00、10.0、15.0 |
CHROMIUM (Cr) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0 |
COBALT (Co) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00 |
COPPER (Cu) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、35.0 |
GOLD (Au) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
IRON (Fe) | 2.00、6.00 |
LEAD (Pb) | 0.25、1.00、2.00、4.00、9.00 |
NICKEL (Ni) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、2.50、3.00、5.00、8.00、10.0、20.0、27.5 |
NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P) | 2.50、6.00、9.00、18.0 |
PALLADIUM (Pd) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
PLATINUM (Pt) | 0.50、1.00 |
SILVER (Ag) | 0.10、0.25、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、30.0 |
SOLDER (Sn-Pb) | 5.00、6.00、10.0、14.0(60%Sn)5.00、6.00、14.0(90%Sn) |
TIN (Sn) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、40.0、60.0 |
TITANIUM (Ti) | 0.50、1.00、5.00、10.0 |
ZINC (Zn) | 2.50、10.0、20.0 |
用于校正X射線金屬鍍層測(cè)厚儀,通用于所有品牌所有型號(hào)的XRF機(jī)器。對(duì)XRF機(jī)器進(jìn)行檢驗(yàn)和校正。