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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描電鏡(SEM)> 日本掃描電鏡

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日本掃描電鏡

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日本掃描電鏡

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怡星公司成立于2004年,主要從事專業儀器代理。從業十年來獲得國內廣大客戶的信賴與支持。我們的服務項目包括儀器銷售丶維修丶保養丶實驗技術開發丶應用技術開發等等。我的團隊擁有*的知識丶豐富的經驗丶熱誠的服務態度,是您選購儀器設備的Z佳夥伴。

怡星公司Star Joy Limited主要代理品牌有:JEOL日本電子丶日本力士科RHESCA丶日本怡星IS全自動磨拋機丶英國牛津Oxford等世界產品。主要銷售產品為各式掃描電子顯微鏡,氬離子研磨儀丶全自動磨拋機丶可焊性測試儀等行業相關儀器。

營業據點

東莞市協美電子有限公司

東莞市協美電子有限公司 怡星(中國)有限公司

怡星公司Star Joy Limited在華轉投資機構包括:怡星(中國)有限公司,其子公司為東莞市協美電子有限公司。營業辦事處包括上海丶東莞丶香港丶臺北等地區。為您提供*的優質服務。

JEOL 日本電子

怡星(中國)有限公司

怡星Star Joy Limited

東莞市協美電子有限公司Star Joy Limited主要代理JEOL 日本電子SEM、OXFORD 英國牛津、日本RHESCA公司產品,并提供使用客戶儀器相關技術轉移及專業的維修保養。讓您享受進口儀器的*性能及怡星的在地優質服務。

日本掃描電鏡通過超級混合式物鏡(SHL)進行高分辨率觀察

JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場和靜磁場疊加的超級混合式物鏡(SHL),由于減少了色差及球差,*地提高了低加速電壓下的分辨率。此外,SHL不會對樣品形成磁場影響,因此觀察磁性材料的樣品和進行EBSD測試可以不受制約。

JSM-7800F場發射掃描電子顯微鏡
JSM-7800F場發射掃描電子顯微鏡

日本掃描電鏡低加速電壓下的能量選擇

能量過濾器位于高位檢測器 (UED)的正下方,可以選擇能量。即使在低加速電壓下,也能夠精確地選擇二次電子和背散射電子,因而可以通過低加速電壓下的背散射電子像,觀察樣品的淺表面。

通過GENTLE BEAM (即柔和光束GB模式)觀察樣品的淺表面

給樣品加以偏壓(GB),對入射電子有減速、對釋放出的電子有加速作用。即使入射電子束到達樣品時的能量很低,也可以獲得高分辨率、高信噪比的圖像。如果利用能施加更高偏壓的GB模式,用數十電子伏能量的入射電子束,就可以進行更高分辨率的觀察。

JSM-7800F場發射掃描電子顯微鏡
JSM-7800F場發射掃描電子顯微鏡

通過多個檢測器獲取樣品的所有信息

JSM-7800F配有四種檢測器:高位檢測器(UED) 、高位二次電子檢測器(USD)、背散射電子檢測器(BED)和低位檢測器(LED)。UED過濾器的電壓不同,二次電子和背散射電子的數量會改變,因此可以選擇電子的能量,USD檢測被過濾器彈回的低能量電子,BED通過檢測低角度的背散射電子,能清楚地觀察通道襯度。利用LED的照明效果能夠獲得含有形貌信息的、富有立體感的圖像。

 

應用實例

低加速電壓下的觀察
利用JSM-7800F的GB模式,到達樣品的能量從10 eV開始就可以觀察。下面將到達樣品的能量設定為80 eV進行實例觀察:一個碳原子厚度的石墨薄片的表面

樣品: 石墨烯 到達能量80eV

利用GBSH觀察
利用GBSH對樣品施加高偏壓,像差將會減小,圖像的高分辨率會更高。能清楚地觀察到介孔二氧化硅里中的微孔(左圖)。

樣品:介孔二氧化硅 到達樣品的能量: 1keV

觀察磁性材料樣品
SHL物鏡能抑制磁場的泄漏,因此即便是磁性材料的樣品,也可以用極低的入射電子能量很容易地進行高分辨率觀察 。

樣品: 磁鐵礦納米顆粒 到達樣品的能量: 1keV

UED和USD能同時獲取背散射電子像(左圖)和二次電子像(右圖),因此可以精確地解釋圖像。二次電子像主要反映形貌信息,金顆粒和TiO2的襯度沒有明顯不同,而背散射電子像中原子序數高的金顆粒則顯得明亮。樣品: 金負載型TiO2催化劑(2kV)g

磁性樣品的EBSD測試
SHL沒有磁場泄漏的影響,也很適合于EBSD。象下圖所示那樣,通過反極圖能準確地確定晶體的取向。

分析點數: 118585
尺寸:
Xzui大: 80.00微米, Y zui大: 79.89微米
步長: 0.25微米
相: Nd2Fe14B
從樣品中獲得的EBSD花樣實例
( 在任意點上獲取)
NDTDRD

 

產品規格

分辨率0.8 nm(15 kV)
1.2 nm(1 kV)
3.0 nm (15kV、5nA、WD10mm)
倍率×25 ~ ×1,000,000(SEM)
加速電壓0.01kV ~ 30kV
樣品照射電流(探針電流)數pA~200nA
自動光闌角*控制透鏡內置
檢測器高位檢測器(UED)
低位檢測器(LED)
能量過濾器UED過濾器電壓可變功能內置
Gentle Beam (GB模式即柔和光束) (樣品偏壓)內置
數字圖像1,280 x 960 像素, 800 x 600 像素
樣品交換室由TYPE2A構成
樣品臺全對中測角樣品臺、5軸馬達驅動
X-YX:70mm, Y:50mm
傾斜-5 ~ +70°
旋轉360°
工作距離2mm to 25mm
真空系統SIP 2臺、TMP、RP
節能設計正常運行時: 1.3kVA
節能模式時: 0.8kV

 

JSM-7800F的物鏡采用的是靜電場和靜磁場疊加的超級混合式物鏡(SHL),由于減少了色差及球差,*地提高了低加速電壓下的分辨率。此外,SHL不會對樣品形成磁場影響,因此觀察磁性材料的樣品和進行EBSD測試可以不受制約。



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