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化工儀器網>產品展廳>分析儀器>X射線儀器>X射線熒光光譜儀(XRF)>EDX660- 八大重金屬分析儀

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EDX660- 八大重金屬分析儀

參考價 208000
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

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X射線RoHS儀、測厚儀技術轉讓


X射線熒光光譜儀,英文縮寫XRF。

XRF可用于分析物質(元素)組成和鍍層厚度,具有便捷、快速、精度高等特點。

測含量精度能達PPM(百萬分之一)級,測厚度能達0.01um級。

其應用主要有:

1)、RoHS、無鹵分析:電子、電器、五金、塑膠等制造業

2)、鍍層測厚分析:電鍍、電子器件、珠寶首飾等行業

3)、元素分析:貴金屬、考古、礦產、材料、水泥、鋼鐵、石油、環境等行業

   現成熟的研發、生產技術轉讓。

聯系人:楊先生

聯系電話:13632568748

qq:648048428

X射線熒光光譜儀,XRF,RoHS分析儀,鍍層測厚儀,鹵素/重金屬分析儀

[技術參數]
     探測器:      進口半導體探測器,分辨率達139eV
     X光管:       鎢(W)靶,zui大電壓50kV,zui大電流1mA
                           使用壽命長達5萬小時
     高壓電源:  精密X射線電源,zui高輸出電壓50kV
                           穩定度每8小時小于0.05%
     濾光片:      6組濾光片電動切換,有效降低背景干擾
     準直器:      直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換
                           免去人工操作煩惱
     對焦系統:  旋鈕視覺對焦
     樣品腔:     大氣
     樣品觀察: 高清晰彩色CCD射線頭
     X射線防護: 三重X射線防護(樣品腔、機殼、程序控制),
                          低于GB16355-1996防輻射標準
     輸入電壓:  AC 220V/50HZ
    功耗:           260W
    樣品腔尺寸: 660×400×135mm
    外型尺寸:  680×460×475mm
    重量:         40Kg

[性能指標]
    可測元素:         硫(S)-鈾(U)
    同時可測元素: 36種
    分析物質狀態: 固態、粉末、液體
    含量分析范圍: 0.0002~*
    含量檢出限:     2ppm
    含量相對誤差: 5~10%
    可測鍍層:         zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無機薄膜
    精度:                 zui高可達0.01um
    厚度相對誤差: 單層5%,多層10%
    zui小測量直徑: 2mm
    分析時間:         60~300S

[功能特點]
    采用進口的型探測器,對超低含量的元素都能探測;
    自動安全的高壓防護電路設計;
     *的光路系統,增大X射線強度,減少散射背景;
    專門針對RoHS、無鹵素、八大重金屬等環保指令有害元素的優化;
    緊密封閉的腔體設計、電路控制、機械控制三重X射線防護;
    靈活精準的分析軟件,既可進行簡單、快速的物質測試,滿足工業化生產需求,也
    可通過科學的參數配置滿足復雜、高精度的元素分析;
    采用了、復雜的X熒光分析算法,比任何同類軟件都要適應各種復雜、多
    樣的物質分析,解決了傳統X熒光分析必須依賴相同基體標樣局限;
    對分析樣品的狀態、形狀、大小自動進行校正,減少因制樣不足而帶來的誤差。



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