SPM-8000FM 高分辨率掃描型探針顯微鏡
- 公司名稱 島津企業管理(中國)有限公司
- 品牌 SHIMADZU/島津
- 型號 SPM-8000FM
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/9/5 21:25:16
- 訪問次數 2950
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- 【石化檢測】SPM系列丨潤滑油固液界面特性表征09月06日
產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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儀器種類 | 其它 | 應用領域 | 食品,化工 |
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡
HR-SPM HR-SPM是采用頻率檢測方式(Frequency Modulation)的新一代掃描探針顯微鏡。不僅可在大氣·液體環境中實現超高分辨率的觀察,還實現了固液界面的水化作用層(hydration)·溶劑化作用層(solvation)的觀察。 |
SPM-8000FM高分辨率掃描型探針顯微鏡HR-SPM的特點
●采用FM(頻率調制)方式 以往的SPM(掃描型探針顯微鏡)/AFM(原子力顯微鏡)是AM(振幅調制)方式,而FM(頻率調制)方式從原理上就因為高靈敏度檢測從而可實現更高的分辨率。 SPM:Scanning Probe Microseope |
和以往SPM/AFM相比的不同
液體中原子分辨率觀察
圖為在飽和溶液中觀察NaCl表面的原子排列。以往AFM(AM方式:左)湮沒在噪聲中的原子通過FM方式(右)則可以清晰地觀察到。 FM方式可以得到真正的原子分辨率(True Atomic Resolution)。 |
大氣中Pt催化粒子的KPFM觀察
TiO2基板上的Pt催化粒子被識別了出來,并通過KPFM進行表面電勢的測定??梢杂^察到數nm大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中,紅色○區域是正電勢,藍色□區域是負電勢。可見對于KPFM觀察,分辨率也得到了大幅的提高。 *KPFM(Keivin Probe Force Microscope)功能為特殊定制。 |
<引用文獻>
1) | Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2 Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2 Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012). |