鍍層測厚儀產品指標:
測厚技術:X射線熒光測厚技術
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
鍍層測厚儀測量下限:0.003um
測量上限:30-50um(以材料元素判定)
測量層數:10層
測量用時:30-120秒
探測器類型:Si-PIN電制冷
探測器分辨率:145eV
高壓范圍:0-50Kv,50W
X光管參數:0-50Kv,50W,側窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:3種自動切換;
CCD觀察:260萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測試環境:非真空條件
數據通訊:USB2.0模式
準直器:0.5mm?1mm,?2mm,?4mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區:開放工作區 自定義
樣品腔:330×360×100mm
國產鍍層測厚儀*胡