[技術參數]
     探測器：      進口半導體探測器，分辨率達149eV
     X光管：       鎢（W）靶，zui大電壓50kV，zui大電流1mA
                           使用壽命長達5萬小時
     高壓電源：  精密X射線電源，zui高輸出電壓50kV
                           穩定度每8小時小于0.05%
     濾光片：      6組濾光片手動切換，有效降低背景干擾
     準直器：      直徑8mm、5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm電動切換
                           免去人工操作煩惱
     對焦系統：  旋鈕視覺對焦
     樣品腔：      大氣
     樣品觀察：  高清晰彩色CCD射線頭
     X射線防護： 三重X射線防護（樣品腔、機殼、程序控制），
                           低于GB16355-1996防輻射標準
     輸入電壓：  AC 220V/50HZ
    功耗：           260W
    樣品腔尺寸： 590×390×135mm
    外型尺寸：   650×460×475mm
    重量：          35Kg

[性能指標]
    可測元素：         硫（S）－鈾（U）
    同時可測元素： 24種
    分析物質狀態： 固態、粉末、液體
    含量分析范圍： 0.0005～*
    含量檢出限：     5ppm                                                                                                                                          精度：                 Rh,Pd,Ag－0.01% ， Pt,Au － 0.005%                                                                           
    含量相對誤差： 10%
    可測鍍層：         zui多5層金屬鍍層、金屬基體上單層無 機薄膜
    精度：                 zui高可達0.02um                                
    厚度相對誤差： 單層8%，多層15%
    zui小測量直徑： 2mm
    分析時間：         60～300S

[功能特點]
    采用進口的型探測器，對超低含量的元素都能探測；
    自動安全的高壓防護電路設計；
     *的光路系統，增大X射線強度，減少散射背景；
    緊密封閉的腔體設計、電路控制、機械控制三重X射線防護；
    靈活精準的分析軟件，既可進行簡單、快速的物質測試，滿足工業化生產需求；
   專門針對貴金屬的基體校正，有效解決了校正曲線因主體元素含量不同而帶來的分析誤差；