X熒光光譜儀EDX9000P性能優勢

快—1秒鐘出結果
采用行業的極速探測器技術——（X-SDD）分辨率zui低至125eV
優勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，X熒光光譜儀EDX9000P檢出限更低
采用行業的數字多道技術 
優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率zui高可達1000Wcps
采用大功率X光管及*的準直濾光系統 
優勢：激發效率更高
X熒光光譜儀EDX9000P光閘系統 
優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統 
超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點 
多點測試 
2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試 
超小樣品檢測——zui小可測到0.2毫米 
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器zui小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
X熒光光譜儀EDX9000P人性化的設計 
更安全：X射線聯動安全裝置——光閘與聯動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯動
更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態；同時可以實現預約關機，關機前可設定聲光提示

X熒光光譜儀EDX9000P技術參數

X熒光光譜儀EDX9000P測量元素范圍：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，zui薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9%
穩定性：0.02%
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
X熒光光譜儀EDX9000P探測器：X-SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片自由切換
樣品觀察：高清工業攝像頭
環境濕度：≤70%
環境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）