深圳市華豐科技有限公司成立于1986年，總部位于中國改革開放的前沿--深圳經濟特區。在北京、上海設有分公司或辦事處。同時，公司在以上三地均設有倉庫。
自1948年德國Steingoever博士發明*臺利用磁吸力原理的測厚儀以來，德國EPK公司一直是表面科技的*之一、是無損涂層厚度測量的。
1990年，深圳市華豐科技有限公司成為德國EPK公司在中國的*代理。次年，EPK產品就獲得全國涂料和顏料標準化委員會**，并成為*通過國家技術質量*主持的國家計量器具型式批準的產品，從此開創了EPK產品在中國的輝煌。
深圳市華豐科技有限公司在*代理EPK公司產品的同時，也成為了英國RHOPOINT公司中國總代理，德國BYK公司中國一級代理，英國PTE公司中國總代理，美國WEBSTER公司中國一級代理。
公司下設幾個部門：航材部、儀器部、發展部、行政部、儲運部和財務部。華豐公司尤其自豪的是她擁有一支專業的、富有活力的(平均年齡33歲)和受過良好教育的(80% 員工本科以上學歷)隊伍，為客戶提供全面高效的售前，售中和售后服務！
涂層測厚儀,鍍層測厚儀,超聲波測厚儀,材料測厚儀,光澤儀，色差儀，反射率儀，硬度鉗，針孔檢測儀
白光干涉，作為一種廣泛應用的三維表面形貌測量技術，其縱向分辨率可達到亞納米級別。
視場內信息采集與數據處理同時進行，大面積區域的高度信息采集時間短。
多用于科學研究與質量管理領域，典型應用包括不同表面粗糙度樣品的三維表面形貌測量（如晶片結構、鏡面、玻璃與金屬）、臺階高度測定和曲面精度測量（如微型透鏡）。
SmartWLI系列白光干涉三維輪廓儀創新性地整合白光干涉技術，自主研發的SmartWLI 軟件可以對整個測量過程進行監測與控制。
其核心算法基于GBS*研發與測量經驗，具備高效、穩定、精度高等特點。
技術優勢：
-非接觸
-納米級精度
-測量時間短
-性能可靠
結構：
LED光源（軟件控制）
壓電馬達，用于垂直方向物鏡移動，范圍400μm
控制盒
CCD攝像頭（1624 x 1234 像素）GigE接口
PC機或筆記本電腦 Win7系統，NVIDIA GPU 用于超快數據處理，液晶顯示器，鍵盤，鼠標
GBS公司開發SmartWLI軟件，用于形貌測量及通過直接接口輸出三維數據進入MountainsMap圖片形貌圖片處理軟件，包括文件編制MountainsMap圖片形貌軟件，用于圖片處理，數據分析與生成報告。
技術參數：
應用領域：
-表面形貌和粗糙度測定
-2D顯微鏡升級為3D顯微鏡
-曲面精度測量
配件：
為實現樣品表面三維形貌的高精度（納米級）測量要求，輪廓儀需配合防震臺使用。GBS公司*ACCURION I4主動式（充氣）防震臺來降低測量過程中的震動噪聲影響。
MountainsMAP®表面分析軟件與三維可視化測量報告
作為一款高品質的表面成像與分析軟件，MountainsMAP®適合實驗室、研究機構及工廠各類機能表面的設計、測試或制造設備使用。
MountainsMAP®擁有一整套全面的解決方案，于表面外觀及形貌的成像與分析，提供詳盡的三維可視化測量報告。
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