JW-BK122W型 氧化硅比表面及孔徑測定儀
精微高博是氧化硅比表面及孔徑測定儀的廠商,精微高博一并榮獲中國*測試證書,*及CE認證并且還有*的產品是通過**
精微高博比表面儀具有專有的雙級真空技術，多級壓力傳感器，國內*可進行微孔分布測試的儀器。

功能
比表面測定：      BET（單點、多點）比表面、Langmuir比表面、外表面測定
BJH孔徑分布測定：      總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布
微孔常規分析：      微孔總孔體積、總內表面積（t-圖、D&R、MP等）
微孔孔徑分布測試：    氮分壓10-7 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測定                                           0.35-2nm微孔孔徑分布分析（HK或FS法）
真密度測試

技術參數
原理方法：  低溫氮吸附，靜態容量法
吸附氣體：  高純氮氣，也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
極限真空：  4 - 6.7×10-3 Pa （ 3 - 5×10-5 Torr）
氮氣分壓：  4×10-7 –0.995
控制精度：  測試壓力點控制zui小間隔可小于0.1 KPa （0.75  Torr），測試點可多達一千個。
                         10-7-10-1范圍測試壓力點大于50點
測試范圍：  比表面  ≥ 0.01 M2/g，無規定上限
                         介孔孔徑分析 2 - 400nm
                         微孔孔徑分析0.35 - 2nm
測試精度：  ≤±2%
                          0.35-2nm 微孔zui可幾孔徑重復精度 ≤0.02nm
測試效率：  多點BET比表面每樣平均20min
                          孔徑分析時間隨材質不同各異
預 處 理：  兩個樣品同位處理，溫度50-400℃，±1℃
軟件：  BET（單點、多點）、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等

特色
    ◎  比表面儀具有國內*通過*技術鑒定的產品，控制和測試精度達到*水平；
    ◎  比表面儀具有*雙級真空系統，測試系統實際真空度可達0.01Pa，P/Po達10-7，
          基本滿足了微孔測試條件；
    ◎  比表面儀具有*的抽氣與充氣速度精密控制技術，保證了測試的準確性和安全性；
    ◎  比表面儀具有*的液氮面多途徑控制與校正技術，連續測試10小時也不需添加液氮；
    ◎  比表面儀具有完善的標準等溫線數據庫和規范的分析方法，微孔常規測試技術國內；
    ◎  比表面儀具有國內*擁有微孔分布測試軟件技術（HK、FS等）
    ◎  比表面儀具有軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實時顯示樣品的吸、脫附壓力變化及平衡過程；
    ◎  比表面儀具有實驗全程自動化、智能化控制，長時間運行*可以無人值守；

靜態容量法比表面測試儀特點之真密度測試：
技術參數：
     JW-BK系列靜態容量法比表面及孔徑分析儀，適用于各種粉體材料、固體材料等的真密度分析，*的高精度真密度測試功能，測試時間不超過3分鐘/次，連續測試次數用戶可以自行定義，zui高次數可達10次。
★ 重復性：± 0.015 %；
★ 精確度：± 0.02 %；
★ 測試分辨率：0.00001 g/cm3

公司榮譽
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中關村*協會理事單位
中國分析測試協會會員單位
北京粉體技術協會理事單位
*受*專家進行產品鑒定的企業
歐盟安全體系認定證書
中國計量研究院儀器校準證書
北京市可引進人才進京落戶單位
公司的核心價值
發展；尊重人才與創新；以服務客戶為己任。