B-100Y表面劃痕檢查燈可快速檢查加工表面的瑕疵，灰塵，異物等小至10微米的瑕疵、小顆粒，高強度抗沖擊外殼由有Cool-Touch阻熱材料制造，可長時間工作不產生高溫。

表面晶粒檢查燈應用：LCD濾光片、偏光板、晶圓、半導體、玻璃或金屬表面刮痕及灰塵檢查

B-100Y表面劃痕檢查燈主要特點

•檢查精密加工表面的瑕疵、污點、異物等
•快速無損檢測小至10微米的瑕疵、小顆粒
•有效地探測出生產過程是早期的污物，節省生產時間及不必要的成本
•100瓦高強度汞燈發出543,574及576nm波長光譜
•黃色濾色片濾掉波長小于500nm的光線，防止產生熒光干擾
•高對比度的光線能清晰檢測到精細的表面粒子
•B-100Y是鋁合金外殼;B-100YP帶塑料外殼
•燈頭人體工學設計，易于操作

B-100Y和B-100YP

黃色濾光片能濾掉波長小于500nm的光線，產生543nm、574和576nm的光線。高對比度的光線可檢測表面小于10微米的顆粒。b-100Y鋁合金外殼，B-100YP帶塑料外殼。

規格

UV光源：365nm長波紫外線
功率：100W
濾色片：黃光
尺寸：248X152mm
重量：5.67kg
電源線：2.44米

B-100Y and B-100YP
These models feature a yellow filter which blocks wavelengths shorter than 500nm and produces three strong mercury lines at 543, 574 and 576nm. The high contrast light is produced for fine surface particle detection. Particles down to 10 microns are routinely visible with this lamp. B-100Y is built with the aluminum housing; B-100YP with a plastic housing. These lamps are excellent for semiconductor wafer inspection as most photoresist absorption occurs below 450nm.

B-100系列的紫外線型號選擇：