測試系統用途及主要測試對象
測試系統可對半導體分立器件進行測試，可測試的器件類型和參數項如下：
二極管：BVR、IR、VF、VZ、RZ
三極管：  BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT
可控硅：BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IH、IL、VGT、VON
場效應管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS（on）、VDS（on）、VGS、VGS（th）、VP
IGBT：BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS（off）
光耦：CTR、BVECO、Tr、Tf、Toff、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR
達林頓矩陣：ICEX、 IIN（ON）、 IIN（Off）、 VIN（on）、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO
單結晶體管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2
光敏二、三極管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE
固態繼電器：IFoff 、IFon、IR、Ioff 、Ion、RON 、Toff 、Ton、VF 、VR、Von

測試系統可對器件測試結果進行存儲和打印。