紫外可見分光光度計
- 公司名稱 上海理儀自控科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/9/26 19:41:20
- 訪問次數 434
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紫外可見分光光度計
功能
光度測量：定波長測試透過率、吸光度和系數吸光度測量。
光譜掃描：掃描速度可選，掃描間隔可選（0.1、0.5、1、2、5nm），峰/谷自動檢測，圖譜縮放等功能。
定量測定：單波長法，1-3階線性標準曲線擬合，zui多可建立9個標樣點的標準曲線。
動力學測量（時間掃描）：對樣品進行動力學測試，測試間隔時間可選，可保存近10000個測試數據點。
UV2800S 具有四檔光譜帶寬可調（0.5、1、1.8、4nm）。
特點
◇持久的穩定性：雙光束光學系統，電路系統，確保儀器長時間的穩定。
◇超低的雜散光：*的光學系統、低噪聲的電路系統和優質的光學元器件保證儀器具有超低的雜散光，使高濃度樣品測試更準確。
◇顯示及操作：人性化設計，主機能進行光譜掃描，大屏幕顯示器顯示數據、圖形、曲線，更直觀，用戶操作簡單方便。
◇燈源更換簡單方便：法蘭盤座式氘燈結構，更換氘燈無需工具，免去換燈時光路調試步驟，使儀器調試、維護更加簡單。
◇豐富的可選附件：自動六聯比色架等多種附件可供選擇，儀器測量功能更加廣泛。
◇可選配UV-Solution3.0工作軟件，可進行多種測試（光譜掃描、導數光譜）等功能。
技術參數
| 型 號 | UV2800 | UV2800S |
| 光學系統 | 雙光束 | 雙光束 |
| 光譜帶寬 | 1.8nm | 0.5、1、1.8、4nm |
| 波長范圍 | 190～1100nm | 190～1100nm |
| 波長zui大允許誤差 | ±0.3nm | ±0.3nm |
| 波長重復性 | ≤0.2nm | ≤0.2nm |
| 光度范圍 | T:0～200.00%T A:-0.301～4.000Abs C:0～9999 | T:0～200.00%T A:-0.301～4.000Abs C:0～9999 |
| 透射比zui大允許誤差 | ±0.3%T | ±0.3%T |
| 透射比重復性 | ≤0.1%T | ≤0.1%T |
| 雜散光 | ≤0.05%T（220nm、340nm處） | ≤0.05%T（220nm、340nm處） |
| 基線平直度 | ±0.001A | ±0.001A |
| 漂移 | ≤0.0005A/h（500nm處） | ≤0.0005A/h（500nm處） |
| 噪聲 | *（T）線噪聲≤0.1%（T） 0%（T）線噪聲≤0.05%（T） | *（T）線噪聲≤0.1%（T） 0%（T）線噪聲≤0.05%（T） |
| 顯示器 | 320×240大屏幕LCD（6英寸） | 320×240大屏幕LCD（6英寸） |
| 外形尺寸 | 540x445x230（mm） | 540x445x230（mm） |
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