英國Chilworth靜電衰減分析儀JCI155v6
- 公司名稱 上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2024/8/17 10:19:13
- 訪問次數(shù) 2223
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英國Chilworth靜電衰減分析儀JCI155v6
Electrostatic Charge Decay Time Analyser JCI-155v6
JCI-155 靜電衰減分析儀由英國Chilworth公司開發(fā)制造. Chilworth是的爆炸/燃燒危害檢測機(jī)構(gòu), 同時(shí)也是相關(guān)專業(yè)儀器和設(shè)備的制造商. JCI-155 靜電衰減分析儀經(jīng)歷了3代的發(fā)展過程, 從zui初的155v4 到155v5, 型號為155v6.
JCI-155靜電衰減儀可對固體,粉體和液體材料進(jìn)行監(jiān)測, 軟件功能強(qiáng)大, 是美國國家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品. 同時(shí)JCI-155v6衰減分析儀還是IEC 61340-2-1標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范的模板設(shè)備.
JCI 155v6用于測試材料的靜電衰減時(shí)間和電容負(fù)載
可直接將JCI 155v6 放置在測試材料上測量
測量范圍: 10毫秒-99小時(shí)
測試反應(yīng)時(shí)間: 10毫秒
測試電壓(電暈放電): 0-9.9kV(可以選擇正負(fù)極性)
衰減測試比例: 1%-99%的衰減時(shí)間
同時(shí)測量環(huán)境溫濕度
特別設(shè)計(jì)氣閘效應(yīng), 消除殘留空氣離子干擾
高精度靜電壓測試探頭
采用配套JCI176樣品臺可測量轉(zhuǎn)移到測試料樣上的電量, 并計(jì)算出電容負(fù)載
采用配套JCI173樣品杯可以測量粉體和液體的靜電衰減期
配套JCI-Graph軟件在電腦中儲存分析數(shù)據(jù),衰減曲線和形成報(bào)告
品牌: JCI
制造商: Chilworth Technology Ltd
產(chǎn)地: 英國
訂購編號: 描述:
JCI155v6 包含以下物品
測試儀
JCI176樣品臺, 用于測試平面材料, 可以測試材料電荷負(fù)載
JCI173樣品杯, 用于測試粉體和液體
測試儀和樣品臺連接纜線, 1條
接地線, 2條
長USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于連接儀器和電腦
短USB數(shù)據(jù)線, 1條, 用于外接U盤
配套軟件
校正書和說明書
英國Chilworth靜電衰減分析儀JCI155v6性能優(yōu)點(diǎn)
JCI-155v6靜電分析儀是IEC 61340-2-1規(guī)范所采用的*設(shè)備
JCI-155v6靜電分析儀式是美國國家航空和宇宙航行局(NASA)采用產(chǎn)品
JCI-155v6是一款小巧輕便的測試儀器,采用電暈放電方式施加電荷到被測材料表面,可以快速、精確地測量材料的靜電消散能力和評估一定數(shù)量的電荷轉(zhuǎn)移到材料上時(shí),是否會產(chǎn)生明顯的靜電位。
JCI-155v6主要由電壓計(jì)、電暈放電裝置、計(jì)時(shí)器、機(jī)械運(yùn)動結(jié)構(gòu)、內(nèi)部處理器和儲存器構(gòu)成。高壓電暈放電施加電荷到測試料樣表面,電壓計(jì)對表面電壓進(jìn)行測量,計(jì)時(shí)器對過程計(jì)時(shí),所有過程由內(nèi)部處理器控制及處理數(shù)據(jù)。
所有的操作和數(shù)據(jù)處理都由JCI-155v6的處理器和軟件完成,通過5個(gè)多功能按鍵來進(jìn)行人機(jī)交互。測試測試數(shù)據(jù)保存在儀器內(nèi)存中,可以通過USB接口輸出到個(gè)人電腦。
儀器本身大屏幕LCD可以顯示測試讀數(shù)和曲線圖。采用USB連接線連接個(gè)人電腦后,通過配套JCI-Graph軟件可以在電腦端控制儀器,設(shè)置測試參數(shù)。所有數(shù)據(jù)可以輸出到電腦并保存為表單文件,測試數(shù)據(jù)和圖形可以直接打印,復(fù)制粘貼到其他應(yīng)用程序(例如WORD)。
配套JCI-176樣品臺提供一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的測試平臺,可以方便地固定被測材料。JCI-176還可以測試材料所獲得的電荷量,進(jìn)而計(jì)算電容負(fù)載。在JCI-176樣品臺的基礎(chǔ)上加上JCI-173樣品杯可以測試粉體和液體。
JCI-155v6采用特殊結(jié)構(gòu),不同于傳統(tǒng)的靜電衰減監(jiān)測儀。傳統(tǒng)的靜電衰減監(jiān)測儀要求把被測試材料按規(guī)定尺寸切割后放置在一個(gè)旋轉(zhuǎn)的接地平臺上,被測試材料周期性的經(jīng)過,電壓探頭下方,以此來周期性的獲取信號來計(jì)算衰減特性。
JCI-155v6采用旋轉(zhuǎn)葉片式電壓探頭,這樣可以直接周期性的獲取信號,被測試料樣不用特殊處理,也不需要運(yùn)動。因此JCI-155v6的整體結(jié)構(gòu)更加緊密輕巧,可以直接放置在被測材料上進(jìn)行測試。
主要參數(shù)
電暈放電電壓:0-9900V(默認(rèn)設(shè)置7000V)
電暈放電時(shí)間:0-50ms,以2ms增幅設(shè)置(默認(rèn)設(shè)置20ms)
初始電壓取值時(shí)間:0-100ms,以10ms增幅設(shè)置(默認(rèn)設(shè)置20ms)
測試結(jié)束點(diǎn):可以選擇以下4種
低于+/-2V自動結(jié)束測試
到達(dá)1/e 和設(shè)置的衰減百分比(可設(shè)置1%-99%),默認(rèn)設(shè)置10%
開始測試后1-99h(按1h增幅設(shè)置)
手動停止測試
滑板開啟并移動速度:20ms(快),0.75s(慢)
采用JCI-176樣品臺可以測量電容負(fù)載(相對電容)
測試固體材料時(shí),把被測試材料加入JCI-176樣品臺
測試粉體、液體材料時(shí),把JCI-173樣品杯夾入JCI-176樣品臺