電子分析天平XS204  Mettler

電子分析天平-XS204產品參數
量 程： 220g
精 度： 0.1mg
稱盤尺寸： 78×73mm
線 性： ±0.2mg
外型尺寸： 263×453×322mm

電子分析天平-XS204產品用途
本產品適用于各地研究所和實驗室

電子分析天平-XS204主要特點
1.采用高精度、高分辨率后置式傳感器，獲得準確稱量結果
2.全自動校準技術（FACT） - 溫度漂移觸發的天平自動內校，內置兩組砝碼實現線性誤差校準，確保稱量結果的準確性
3.變量程設計（DeltaRange）和雙量程（DualRange）設計，滿足客戶對不同樣品的稱量需求
4.革命性的網格稱量盤（SmartGrid）、懸浮在稱量室中的后掛稱量設計，獲得快速、穩定的稱量結果
5.易巧稱量組件（ErgoClips），方便客戶使用不同去皮容器進行稱量
6.觸摸屏技術（Touch screen），方便天平稱量菜單和參數設置
7.可移動的顯示控制終端，方便天平使用
8.*可拆卸的防風罩設計，實現天平的快速清潔
9.內置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設備
10.優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求
11.具有簡單稱量、統計稱量、公式稱量、密度測定等內置應用程序
12.e-Loader II軟件，實現更便捷的天平軟件更新 （1）按照OIML76標準 （2）溫度范圍10—30 （3）靈敏度漂移/年（天平*使用后），激活FACT全自動校準技術 （4）包括樣品處理時間設置